[发明专利]处理装置和方法、空气污染检测装置和方法有效
申请号: | 201910951419.8 | 申请日: | 2019-10-08 |
公开(公告)号: | CN111024629B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 托马斯·艾斯利耶;穆罕默德·西迪基 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01J3/28 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴孟秋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 装置 方法 空气污染 检测 | ||
1.一种用于确定空气污染的处理装置,所述处理装置包括处理电路,所述处理电路被配置为:
获得表示在太阳光谱的光谱范围内测量的太阳光的光谱测量信号,
根据所获得的光谱测量信号确定光谱功率分布,
识别在紫色光、蓝色光和/或绿色光的波长范围内的光谱功率分布的特征,并且
通过确定425nm和475nm处的光谱功率分布值的高斯混合并且使用所述高斯混合来确定空气污染的存在和/或水平,
其中,所述处理电路还被配置为:
如果425nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合低于第一阈值,则确定存在空气污染,和/或确定425nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合越低,空气污染水平越高;和/或
如果475nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合的峰值幅度增加,则确定存在空气污染;和/或
通过确定425nm和/或475nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合的一个或多个峰值的幅度增加的绝对量和/或相对量、和/或425nm和475nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合的平均值、方差和/或积分增加的量,来确定空气污染水平。
2.根据权利要求1所述的处理装置,
其中,所述处理电路还被配置为将峰值频率、峰值强度、峰值数量和峰值曲线下的面积中的一个或多个识别为特征。
3.根据权利要求1所述的处理装置,
其中,所述处理电路还被配置为通过识别与一个或多个较早的光谱功率分布和/或一个或多个参考光谱功率分布相比的光谱功率分布的变化,来识别光谱功率分布的特征。
4.根据权利要求1所述的处理装置,
其中,所述处理电路还被配置为识别400nm至500nm波长范围内的光谱功率分布的特征。
5.根据权利要求1所述的处理装置,
其中,所述处理电路被配置为根据所识别的特征来确定光化学雾霾的存在和/或水平。
6.一种用于确定空气污染的处理方法,所述处理方法包括:
获得表示在太阳光谱的光谱范围内测量的太阳光的光谱测量信号,
根据所获得的光谱测量信号确定光谱功率分布,
识别紫色光、蓝色光和/或绿色光的波长范围内的光谱功率分布的特征,并且
通过确定425nm和475nm处的光谱功率分布值的高斯混合并且使用所述高斯混合来根据所识别的特征确定空气污染的存在和/或水平,
其中,确定空气污染的存在和/或水平还包括:
如果425nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合低于第一阈值,则确定存在空气污染,和/或确定425nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合越低,空气污染水平越高;和/或
如果475nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合的峰值幅度增加,则确定存在空气污染;和/或
通过确定425nm和/或475nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合的一个或多个峰值的幅度增加的绝对量和/或相对量、和/或425nm和475nm处的光谱功率分布值的所述高斯混合的平均值、方差和/或积分增加的量,来确定空气污染水平。
7.一种空气污染检测装置,包括:
光谱测量检测器,被配置为检测太阳光谱的光谱范围内的太阳光,并从检测到的太阳光生成光谱测量信号,以及
根据权利要求1所述的处理装置,用于根据光谱测量信号确定空气污染的存在和/或水平。
8.根据权利要求7所述的空气污染检测装置,
其中,所述光谱测量检测器包括滤色器阵列或等离子体滤波器。
9.一种空气污染检测方法,包括:
检测太阳光谱的光谱范围内的太阳光,并从检测到的太阳光生成光谱测量信号,以及
根据权利要求6所述的处理方法,用于从光谱测量信号中确定空气污染的存在和/或水平。
10.一种在其中存储计算机程序产品的非暂时性计算机可读记录介质,当由处理器执行时,所述计算机程序产品促使执行根据权利要求6所述的方法。
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