[发明专利]射频激励响应测量设备及传递函数测量系统

权利要求书

1.一种射频激励响应测量设备，适用于直线构型试件，其特征在于，包括：

底座，用于固定安装所述试件；

激励输入部，固定安装在所述底座上，用于与所述试件电连接；

移动部，安装在所述底座上且可沿试件长度方向移动，所述移动部上安装有测量线圈，所述测量线圈用于套设在所述试件上；

响应输出部，与所述测量线圈电连接。

2.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于，还包括：测量线圈固定部，设置在所述移动部上，一端具有固定所述测量线圈的第一凹槽，所述第一凹槽的底部开设有与所述第一凹槽同心且适于所述试件穿过的通孔；

所述测量线圈固定部上还开设有固定所述响应输出部的第二凹槽，所述第二凹槽与所述第一凹槽连通。

3.如权利要求2所述的测量设备，其特征在于，

所述测量线圈与所述第一凹槽和/或所述响应输出部与所述第二凹槽为过盈配合。

4.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于，还包括：

支撑部，一端可移动地设置在所述移动部上，另一端可移动地支撑于所述试件朝向所述底座的一侧；

所述测量线圈与所述支撑部配合移动。

5.如权利要求4所述的测量设备，其特征在于，支撑部包括：

第一支撑单元，第二支撑单元以及连接第一支撑单元和第二支撑单元的可收紧和伸展的延伸装置；

其中，所述线圈设置在所述第一支撑单元和所述第二支撑单元之间，所述测量线圈在所述延伸装置收紧或伸展时可跟随所述第一支撑单元和/或所述第二支撑单元移动。

6.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于，所述底座包括：

第一导轨，所述第一导轨上设置有两个试件固定部，两个所述试件固定部分别用于固定所述试件的两端，两个所述试件固定部中的至少一个可沿所述导轨移动，并可通过第一紧固部紧固在所述第一导轨上。

7.如权利要求6所述的测量设备，其特征在于，还包括：

激励连接部，设置在其中之一的固定部上，包括导体单元和包裹在所述导体单元外部的包裹单元，所述激励输入部和所述试件的一端电连接在所述导体单元上。

8.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于，所述导体单元包括：

与所述激励输入部过盈配合的第一腔体；

设置在所述第一腔体外侧的与所述试件一端过盈配合的第二腔体。

9.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于，所述导体单元包括：

T型垫片，所述T型垫片的凸出结构为中空结构，与所述激励输入部过盈配合；

第一弹性锁紧件，一端用于与所述凸出结构锁紧，另一端用于与所述试件的一端锁紧。

10.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于，所述导体单元包括：

第三腔体，一端与所述激励输入部过盈配合，另一端与所述试件一端过盈配合；

所述激励连接部还包括第二弹性锁紧件，固定设置在所述包裹单元内侧，在所述试件一端插入所述第三腔体时，所述第二弹性锁紧件锁紧所述试件。

11.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于，

所述测量线圈的磁芯为铁硅铝磁芯，所述测量线圈的绕线匝数为3-10匝。

12.一种传递函数测量系统，适用于直线构型试件，其特征在于，包括：

如权利要求1-11任意一项所述的射频激励响应测量设备；

分析仪，具有激励端口和响应输入端口，所述激励端口与所述激励输入部连接，所述响应输入端口与所述响应输出部连接，用于根据所述测量设备测量到的响应计算植入物的传递函数。