[发明专利]一种石墨烯XRD表征用样品的制样方法

说明书

本发明为一种石墨烯XRD表征用样品的制样方法。一种石墨烯XRD表征用样品的制样方法，A海绵状石墨烯：将海绵状石墨烯剪切成多个不同大小的样品，按照大小的顺序依次粘贴到样品台中心位置上，再反复轻压样品表面至平整；B粉末状石墨烯：准备带有凹槽的玻璃载片，将粉末状石墨烯填入凹槽中，填满后，再反复轻压样品表面至平整后；C膏状石墨烯：准备中心带有孔洞的玻璃载片，将膏状石墨烯填入到孔洞后，将样品表面多余的膏状石墨烯刮平。本发明所述的一种石墨烯XRD表征用样品的制样方法，该方法针对海绵状、粉末状、膏状的石墨烯样品，选用一定规格的样品台对样品进行合理的处理，有效地提高了谱图质量。

技术领域

本发明属于石墨烯材料技术领域，具体涉及一种石墨烯XRD表征用样品的制样方法。

背景技术

X射线衍射仪是物质微观结构(原子尺度量级)鉴定、分析和研究的重要工具，是一种无损的研究材料结构的方法。可确定物质晶胞参数大小、单胞中原子排列与其材料性质关系，确定物质含有哪些物相及物相含量。可测定材料的晶粒大小、微观和宏观应力、织构、取向度、结晶度、金属间化合物有序度等。X射线衍射仪是物质表征不可缺少的方法。

石墨烯(Graphene)是一种由碳原子构成的单层片状结构的新材料。理想的石墨烯材料具有高透光率、超高载流子迁移率、高比表面积、极高的层内热导率和极高的杨氏模量等优良特征。不同工艺制备的石墨烯状态、层数和结构均有所不同，如何对各类样品进行有效地检测、分析，也是石墨烯新材料的重要研究工作。

XRD表征方法是目前应用于石墨烯材料表征的主要方法之一，该方法可对石墨烯的氧化程度、还原程度、层间距、无序度和缺陷情况进行分析，近年来研究人员总结了各类不同石墨烯材料的特征谱图。对于石墨烯、氧化石墨烯样品而言，由于C、H、O轻元素对X射线吸收较弱，X射线能穿透样品较深，进行常规衍射测量时，较深处样品的衍射信号角度位置将往低角度方向偏离，低角度衍射峰的峰形不对称，衍射峰宽化现象会更为严重，待测样品的形状、表面、厚度、细度等都会影响石墨烯样品的XRD检测结果和谱图质量。为了更好的运用XRD表征方法分析石墨烯样品，XRD衍射数据应该具有较高的准确性，因此需要尽可能地降低各种误差的影响，去除实验条件对衍射数据的干扰，以获得高质量的衍射谱图。

为了保证石墨烯XRD衍射数据的准确性，根据石墨烯的状态，选用特定规格的样品台对待测样品进行合理的处理是十分必要的。有鉴于此，本发明提出一种新的石墨烯XRD表征用样品的制样方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种石墨烯XRD表征用样品的制样方法，该方法针对海绵状、粉末状、膏状的石墨烯样品，选用一定规格的样品台对样品进行合理的处理，有效地提高了谱图质量。

为了实现上述目的，所采用的技术方案：

一种石墨烯XRD表征用样品的制样方法，所述的石墨烯的状态为海绵状、粉末状、膏状；

A海绵状石墨烯：

将海绵状石墨烯剪切成多个不同大小的样品，按照大小的顺序依次粘贴到样品台中心位置上，再反复轻压样品表面至平整，即可进行XRD检测；

B粉末状石墨烯：

准备一块带有凹槽的玻璃载片，将粉末状石墨烯填入凹槽中，填满后，再反复轻压样品表面至平整后，即可进行XRD检测；

C膏状石墨烯：

准备一块中心带有孔洞的玻璃载片，将膏状石墨烯填入到孔洞后，将样品表面多余的膏状石墨烯刮平，即可进行XRD检测。

进一步的，所述的A海绵状石墨烯中，样品台的材质为铝、铁、铜中的一种。

进一步的，所述的A海绵状石墨烯中，样品台为正方形，其表面平行贴3-5行双面胶，用于固定样品。