[发明专利]一种算法测试方法及系统

权利要求书

1.一种算法测试方法，其特征在于，包括：

获取第一待测试算法，并根据所述第一待测试算法的算法测试类型，将所述第一待测试算法封装成对应插件，得到封装后的第一待测试算法；

根据所述算法测试类型，对算法测试模型的算法插件进行替换，以用于对封装后的第一待测试算法进行算法测试。

2.根据权利要求1所述的算法测试方法，其特征在于，所述算法测试模型通过以下步骤得到：

根据待测试算法的算法测试类型，获取多个算法插件，所述多个算法插件至少包括两个；

根据所述多个算法插件，构建算法测试模型，以用于对待测试算法进行算法测试。

3.根据权利要求2所述的算法测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

若获取到多个待测试算法，则根据多个待测试算法的算法测试类型，分别将多个待测试算法封装成对应插件，并根据多个算法测试类型和预设测试顺序，依次对算法测试模型的算法插件进行替换，以用于分别对封装后的多个待测试算法进行测试。

4.根据权利要求2所述的算法测试方法，其特征在于，所述算法测试模型通过动态加载的方法对算法插件进行加载。

5.根据权利要求2所述的算法测试方法，其特征在于，在所述根据所述算法测试类型，对算法测试模型的算法插件进行替换，以用于对封装后的待测试算法进行算法测试之后，所述方法还包括：

获取第二待测试算法，并根据所述第二待测试算法的算法测试类型进行判断分析，若判断获知，所述算法测试模型中不包含所述第二待测试算法的算法测试类型，则对所述算法测试模型的算法插件进行更新，以用于对所述第二待测试算法进行算法测试。

6.根据权利要求2所述的算法测试方法，其特征在于，所述算法测试模型中包含多种用于测试相同算法测试类型的算法插件，以用于对同一个待测试算法进行多次测试，获取最优算法测试方案。

7.一种算法测试系统，其特征在于，包括：

封装模块，用于获取第一待测试算法，并根据所述第一待测试算法的算法测试类型，将所述第一待测试算法封装成对应插件，得到封装后的第一待测试算法；

算法测试模块，用于根据所述算法测试类型，对算法测试模型的算法插件进行替换，以用于对封装后的第一待测试算法进行算法测试。

8.根据权利要求7所述的算法测试系统，其特征在于，所述系统还包括：算法插件更新模块，用于获取第二待测试算法，并根据所述第二待测试算法的算法测试类型进行判断分析，若判断获知，所述算法测试模型中不包含所述第二待测试算法的算法测试类型，则对所述算法测试模型的算法插件进行更新，以用于对所述第二待测试算法进行算法测试。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述算法测试方法的步骤。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述算法测试方法的步骤。