[发明专利]芯片的扫频装置、方法和电子设备在审

专利信息
申请号: 201910959694.4 申请日: 2019-10-10
公开(公告)号: CN112649666A 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 严献平;杨鑫 申请(专利权)人: 北京比特大陆科技有限公司
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02;G01R31/28
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 孙涛;毛威
地址: 100192 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 芯片 装置 方法 电子设备
【权利要求书】:

1.一种芯片的扫频装置,其特征在于,包括:

N组芯片,设置于电路板上,其中,所述N组芯片中的每组芯片包括至少一个芯片,N为大于1的正整数;

控制器,连接于所述N组芯片,用于依次对所述N组芯片进行扫频测试,并确定所述N组芯片中每组芯片的工作频率。

2.根据权利要求1所述的扫频装置,其特征在于,所述N组芯片的数据线串联,所述电路板包括M个电压域,M为大于1的正整数,所述至少一个芯片位于所述M个电压域。

3.根据权利要求2所述的扫频装置,其特征在于,所述N组芯片中的每组芯片包括M个芯片,所述M个芯片分别位于所述M个电压域。

4.根据权利要求3所述的扫频装置,其特征在于,所述N组芯片在所述电路板上呈N列排列,所述M个电压域上的芯片在所述电路板上呈M行排列。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的扫频装置,其特征在于,位于所述电路板上同一个电压域的芯片不同时进行扫频测试。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的扫频装置,其特征在于,所述控制器用于:

从所述N组芯片中的第a组芯片开始,按照位置顺序依次对所述N组芯片进行扫频测试,其中,1≤a≤N,且a为正整数。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的扫频装置,其特征在于,所述控制器用于:

对于所述N组芯片中的第k组芯片,其中,1≤k≤N,且k为正整数,将所述第k组芯片的测试频率设置为X个测试频率中的第i个测试频率,并对所述第k组芯片发送测试数据,其中,所述X个测试频率依次递增,X为大于1的正整数,2≤i≤X,且i为正整数;

获取并判断所述第k组芯片中每个芯片的随机数的数量是否在第一阈值范围内,以确定所述第k组芯片的工作频率,其中,所述随机数为所述第k组芯片中每个芯片接收测试数据后生成的数据。

8.根据权利要求7所述的扫频装置,其特征在于,所述控制器用于:

判断所述第k组芯片中每个芯片的随机数的数量均在第一阈值范围内,且i+1≤X时,采用所述X个测试频率中的第i+1个测试频率对所述第k组芯片进行扫频测试;

判断所述第k组芯片中每个芯片的随机数的数量均在第一阈值范围内,且i+1>X时,确定所述第k组芯片的工作频率为所述X个测试频率中的第X个测试频率;

判断所述第k组芯片中至少一个芯片的随机数的数量在第一阈值范围外时,确定所述第k组芯片的工作频率为所述X个测试频率中的第i-1个测试频率。

9.根据权利要求7或8所述的扫频装置,其特征在于,所述控制器还用于:

将所述N组芯片中除所述第k组芯片外其它组芯片的测试频率设置为所述X个测试频率中的第一个测试频率。

10.根据权利要求1-6中任一项所述的扫频装置,其特征在于,所述控制器用于:

对于所述N组芯片中的第k组芯片,其中,1≤k≤N,且k为正整数,将所述第k组芯片的测试频率设置为Y个测试频率中的第j个测试频率,并对所述第k组芯片发送测试数据,其中,所述Y个测试频率依次递减,Y为大于1的正整数,2≤j≤Y,j为正整数;

获取并判断所述第k组芯片中每个芯片的随机数的数量是否在第一阈值范围内,以确定所述第k组芯片的工作频率,其中,所述随机数为所述第k组芯片中每个芯片接收测试数据后生成的数据。

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