[发明专利]一种导电胶碳粒检测治具及检测方法

说明书

本发明公开了一种导电胶碳粒检测治具及检测方法。治具包括第一导线组和第二导线组，第一导线组包括第一触脚，第二导线组包括第二触脚，第一触脚与第二触脚穿插设置形成第一间隙，第一导线组、第二导线组分别用于连接万用表的正负极以使得碳粒放置在第一间隙时能够检测碳粒的阻值。本发明通过设置第一导线组和第二导线组，第一导线组的第一触脚与第二导线组的第二触脚穿插设置形成第一间隙，第一导线组、第二导线组分别连接万用表的正负极，测试时将碳粒放置在第一间隙即可检测碳粒阻值，克服了现有技术中直接使用万用表进行测量结果不准确的技术问题，利用固定的两个触脚代替万用表的两个表笔，使得测量结果准确率高，而且操作简单。

技术领域

本发明涉及测试治具领域，尤其是涉及一种导电胶碳粒检测治具及检测方法。

背景技术

现有技术中，遥控器的按键与遥控器内部的PCB电路板通过导电胶连接，导电胶上刷有碳油或设置一颗碳粒，按压按键时碳粒与PCB板的两根导线接触，作为导电部分，碳粒的大小可根据PCB板的两根导线之间的间距进行选择。在检测遥控器的按键时，其中导电胶的导电部分需对其进行阻值检测，有一项碳粒、碳油测试，通常行业中叫作导电胶的阻值测试，也就是碳粒、碳油平方毫米电阻值是多少。若碳粒阻值偏大，超出芯片MCU控制IO口的正常导通电阻时，遥控器按键将无法正常工作，此项指标会直接影响遥控器功能。目前很常用的方法就是使用万用表表笔直接测量，但是由于电阻测量值会随万用表表笔与碳粒的接触面积、接触力度等变化而变化，测量出来的数据也会变化，结果很不准确。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的是提供一种导电胶碳粒检测治具及检测方法，操作简单，测试结果准确率高。

本发明所采用的技术方案是：

第一方面，本发明提供一种导电胶碳粒检测治具，包括第一导线组和第二导线组，所述第一导线组包括第一触脚，所述第二导线组包括第二触脚，所述第一触脚与所述第二触脚穿插设置形成第一间隙，所述第一导线组、所述第二导线组分别用于连接万用表的正负极以使得碳粒放置在所述第一间隙时能够检测所述碳粒的阻值。

进一步地，所述检测治具包括多个测试区域，其中，第一测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚和多个所述第一间隙。

进一步地，第二测试区域包括多个第一触脚、多个第二触脚以及其穿插设置形成的多个第二间隙。

进一步地，所述第一间隙宽度为0.7mm。

进一步地，所述第二间隙宽度为1.0mm。

第二方面，本发明提供一种导电胶碳粒检测方法，所述方法包括以下步骤：

设置第一导线组和第二导线组，所述第一导线组包括第一触脚，所述第二导线组包括第二触脚；

将所述第一触脚与所述第二触脚穿插设置形成第一间隙；

将所述第一导线组、所述第二导线组分别连接万用表的正负极；

将碳粒放置在所述第一间隙；

利用所述万用表检测所述碳粒的阻值。

进一步地，所述方法还包括以下步骤：

设置多个测试区域，其中，第一测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚和多个所述第一间隙。

进一步地，所述方法还包括以下步骤：

设置第二测试区域，所述第二测试区域包括多个所述第一触脚、多个所述第二触脚以及其穿插设置形成的多个第二间隙。

进一步地，所述第一间隙宽度为0.7mm。

进一步地，所述第二间隙宽度为1.0mm。