[发明专利]可旋转角度和平移的α放射性样品测量托盘装置

说明书

本发明公开了一种可旋转角度和平移的α放射性样品测量托盘装置，包括支架，所述支架的端部设置有能够沿着支架移动的角度测量板，角度测量板竖直设置；支架的中间位置设置有托盘，所述托盘与角度测量板相连，所述角度测量板上设置有用于测量托盘与水平面角度的角度刻度，支架上设置有用于测量托盘平移量的平移刻度。本发明使测量装置具备角度、轴距两个因素的测量条件，可提高α放射性测量的多样性，丰富和完善了α粒子能谱测量仪器。

技术领域

本发明属于α放射性样品测量设备领域，尤其是一种可旋转角度和平移的α放射性样品测量托盘装置。

背景技术

基于半导体Si探测器的α粒子射线测量技术已成为测定环境、生物及核技术相关样品中α核素的重要放射性分析手段，有效的α粒子射线测量数据，可以为制定实施方案提供科学参考，因此关于α粒子测量与分析的技术在近十多年来得到了迅速发展。α粒子射线测量是α核素分析的重要手段，但由于α粒子射线穿透能力很弱，未到达探测器就已被介质所吸收，这导致α粒子的测量技术难度较大。α测量包括总的α放射性水平测量和α能谱测量。前者只能提供入射α粒子的数目，确定α放射性总的强弱，不能鉴别α核素种类，也不能确定α粒子射线的能量或能量分布，测量比较简单。而α粒子能谱测量则可以详细按能量将α粒子进行分类，给出不同能量的α粒子数目。目前采用的α粒子能谱测量仪器，具有代表性的是美国某公司生产的α能谱仪，其中测量腔室主要由α样品托盘、真空腔以及托盘卡位(用于控制不同的探测器-样品距离：探测器与被测样品之间有10档距离可供选择，相邻两档之间的距离差为4mm，最小距离为8mm，最大距离为44mm)组成。但要对α放射性进行定量就须对探测器进行效率刻度，并详细掌握探测效率受各种测量条件的影响，其中α面源样品与探测器表面的角度、轴距(面源样品中心轴与探测器表面中心轴的距离)是其中两个重要的影响因素，然而α粒子能谱测量仪器的托盘不具备这两个因素的测量条件。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可旋转角度和平移的α放射性样品测量托盘装置，可旋转样品托盘和左右平移托盘，使测量装置具备角度、轴距两个因素的测量条件，丰富和完善了α粒子能谱测量仪器。

本发明的目的是这样实现的：可旋转角度和平移的α放射性样品测量托盘装置，包括支架，所述支架的端部设置有能够沿着支架移动的角度测量板，角度测量板竖直设置；支架的中间位置设置有托盘，所述托盘与角度测量板相连，所述角度测量板上设置有用于测量托盘与水平面角度的角度刻度，支架上设置有用于测量托盘平移量的平移刻度。

进一步地，所述支架的两端分别设置有一角度测量板，托盘的两端分别与两角度测量板相连。

进一步地，所述托盘的两端固定设置有连接轴，所述连接轴与角度测量板固定连接，且连接轴与角度测量板的连接处位于角度刻度对应的圆心处。

进一步地，所述支架与角度测量板之间固定设置有导轨，所述导轨上设置有水平的条形孔，所述连接轴位于条形孔中并与条形孔滑动配合。

进一步地，所述托盘的两端固定设置有连接轴，所述连接轴与角度测量板转动配合，且连接轴与角度测量板的连接处位于角度刻度对应的圆心处。

进一步地，所述角度测量板呈半圆形。

进一步地，所述支架的一端设置有水平的测量板，所述平移刻度设置在测量板上。

进一步地，所述托盘为圆形盘体。

本发明的有益效果是：用于放置样品的托盘可旋转，从而能够调节托盘与水平面的角度，利用角度测量板能够测量托盘与水平面的角度；由于托盘与角度测量板相连，且角度测量板能够沿着支架直线移动，当角度测量板移动时带动托盘移动，从而改变托盘到α能谱仪探测器的轴距。因此，本发明使测量装置具备角度、轴距两个因素的测量条件，可提高α放射性测量的多样性，丰富和完善了α粒子能谱测量仪器。

附图说明

图1是本发明的俯视示意图。