[发明专利]射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法有效
申请号: | 201910965520.9 | 申请日: | 2019-10-12 |
公开(公告)号: | CN110572223B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 王晋杰;张宇 | 申请(专利权)人: | 成都华兴汇明科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/11 | 分类号: | H04B17/11;H04B17/13;H04B17/21 |
代理公司: | 成都君合集专利代理事务所(普通合伙) 51228 | 代理人: | 贾林 |
地址: | 610000 四川省成都市自由贸易试验*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 基带 一体化 终端 自动 测试 系统 校准 方法 | ||
本发明公开了射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法,射频基带一体化终端测试技术领域,通过功率计和频谱仪对每一个将射频基带一体化终端自动测试系统的接口进行频率和功率值测试,并通过矢量网络分析仪测试射频基带一体化终端自动测试系统的发射通道的通道损耗值,通过实测值与理论值的差值,得到校准值,以校准值进行校准。本发明公开的射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法采用功率计、射频基带一体化终端自动测试系统自带的频谱仪和矢量网络分析仪对射频基带一体化终端自动测试系统中的接口进行测试,进而获得校准值,实现校准。
技术领域
本发明涉及射频基带一体化终端测试技术领域,具体涉及射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法。
背景技术
随着移动通信和卫星导航融合趋势的不断加深,卫星导航芯片的形态也在不断地演进变化,从独立的导航射频单元和基带单元到射频基带一体化单元,集成度越来越高,功能越来越完善,市场推进也越来越深入。
在对射频基带一体化终端进行测试时,针对不同的测试项,传统测试方法需要采用手段换线的方法来切换被测件与测试仪表的连接,并记录测试表的的测试结构,整个过程非常耗时,测试效率低下,尤其是对多台终端进行测试时,这一问题尤其严重。
而在采用设备对射频基带一体化终端测试时,其测试使用的设备在使用之前为校准状态,但在使用一段时间后,由于设备中各组成部分的温度漂移等影响,可能产生较大的测试误差,因此需要重新校准。
发明内容
本发明针对现有技术,提供了射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法,采用功率计、射频基带一体化终端自动测试系统自带的频谱仪对射频基带一体化终端自动测试系统中的接口进行测试,进而获得校准值,实现校准。
本发明通过下述技术方案实现:所述射频基带一体化终端自动测试系统的校准方法,通过功率计和频谱仪对射频基带一体化终端自动测试系统的每一个接口进行频率和功率值测试,通过实测值与理论值的差值,得到校准值,以校准值进行校准。
所述射频基带一体化终端自动测试系统包括6个接口,分别为1#、2#、3#、4#、5#、6#,所述频谱仪为射频基带一体化终端自动测试系统自有的装置,所述接口6#连接频谱仪;所述射频基带一体化终端自动测试系统内的中频源通过接口6#输出。
本发明中采用的射频基带一体化终端自动测试系统包括电源及控制单元、噪声源、中频源、上变频器、下变频器、程控衰减器、衰减器和频谱仪;所述中频源通过SPDT开关1连接上变频器,所述上变频器通过依次串联的SPDT开关2、SPDT开关4与射频基带一体化终端的接收端连接;所述中频源依次通过SPDT开关1、程控衰减器与射频基带一体化终端的中低频接收端连接;所述频谱仪依次连接噪声源、SPDT开关4与射频基带一体化终端的接收端;所述SPDT开关2通过SPDT开关5依次连接衰减器、下变频器、SPDT开关3、频谱仪;所述SPDT开关3连接射频基带一体化终端的输出端;所述电源及控制单元分别与噪声源、中频源、上变频器、下变频器、程控衰减器、衰减器、频谱仪连接;所述中频源的输出端设置接口5#、接口6#;所述SPDT开关4与射频基带一体化终端的接收端通过接口1#连接;所述SPDT开关5与射频基带一体化终端通过接口2#连接;程控衰减器与射频基带一体化终端通过接口3#连接;所述SPDT开关3与射频基带一体化终端通过接口4#连接。
所述中频源包括并联的第一中频源和第二中频源,第一中频源和第二中频源通过合路器合路。
进一步地,所述校准方法包括射频基带一体化终端自动测试系统的前向发射通道的给定频点的功率校准、反向中频输入通道的给定频点的功率校准、中频接收通道的给定频点的功率校准、频谱仪的功率校准。
进一步地,射频基带一体化终端自动测试系统的反向中频输入通道的给定频点的功率校准具体包括以下步骤:
S11)将频谱仪连接到接口6#;
S12)设置中频源的频率值,完成中频源的频率校准;
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