[发明专利]一种封装打线的键合方法有效

专利信息
申请号: 201910969417.1 申请日: 2019-10-12
公开(公告)号: CN110729207B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 高峰;戴伟峰 申请(专利权)人: 闳康技术检测(上海)有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200120 上海市浦东新区中国(上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 封装 方法
【权利要求书】:

1.一种封装打线的键合方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1,在铝电极的待键合区域涂抹导电胶;

S2,在金线的端部压设多个凹槽;

S3,将所述金线设置有凹槽的端部埋设在所述导电胶内,并与所述铝电极抵紧;

S4,通过超声波加热所述金线、所述铝电极以及所述导电胶,使所述导电胶固化,并使所述金线与所述铝电极键合;

S5,截断多余的所述金线;

以螺旋形开设所述凹槽或不连续的开设所述凹槽,在步骤S4之前:旋转所述金线,使所述凹槽与所述导电胶充分接触。

2.根据权利要求1所述的封装打线的键合方法,其特征在于,所述导电胶为填料型导电胶。

3.根据权利要求2所述的封装打线的键合方法,其特征在于,所述填料型导电胶的导电填料为金。

4.根据权利要求1所述的封装打线的键合方法,其特征在于,所述凹槽的一端与所述金线的端部边缘平齐。

5.根据权利要求1所述的封装打线的键合方法,其特征在于,在压设多个所述凹槽之前,削尖所述金线的端部。

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