[发明专利]一种比色检测硫离子及浓度的方法及其检测试纸的制备在审
申请号: | 201910972044.3 | 申请日: | 2019-10-14 |
公开(公告)号: | CN110687086A | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 汪晶;许萌;胡军;蒋晨星 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学上虞研究院有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N1/28 |
代理公司: | 33332 杭州创造力专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 陈冲 |
地址: | 312300 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硫离子 比色检测 检测试纸 量子点 制备 分析化学 明胶 玻璃纤维 发射波长 环境检测 可视化 试纸 检测 应用 成功 | ||
1.一种比色检测硫离子及浓度的方法,其特征在于:将CdTe量子点分散在超纯水中,所述CdTe量子点表面修饰的配体为巯基乙酸、巯基丙酸、N-乙酰-L-半胱氨酸中的一种;所述CdTe量子点的发射波长在515nm至540nm之间;所述CdTe量子点的浓度为1×10-8至5×10-4M;然后向CdTe量子点溶液中加入不同终浓度的硫离子溶液,测试各体系在365-380nm激发波长下的荧光强度;以硫离子浓度为横坐标,加入硫离子前后体系荧光强度峰值为纵坐标构建线性曲线,进而测得待测液中硫离子的浓度。
2.根据权利要求1中所述的一种比色检测硫离子及浓度的方法,其特征在于:所述CdTe量子点的发射波长在520nm至540nm之间。
3.根据权利要求1中所述的一种比色检测硫离子及浓度的方法,其特征在于:所述CdTe量子点的浓度为1×10-8至5×10-6 M。
4.一种比色检测硫离子检测试纸的制备,其特征在于:将玻璃纤维试纸浸泡在CdTe量子点与明胶的混合溶液中,所述CdTe量子点表面修饰的配体为巯基乙酸、巯基丙酸、N-乙酰-L-半胱氨酸中的一种;所述CdTe量子点的发射波长在515nm至540nm之间;所述CdTe量子点的浓度为1×10-8至5×10-4M;所述CdTe量子点浓度为5×10-6至5×10-4M,明胶浓度为5g/L至50g/L,CdTe量子点与明胶溶液的体积比为0.5~2;随后取出浸有量子点的试纸,进行冻干,即得到硫离子检测试纸。
5.根据权利要求4中所述的一种比色检测硫离子检测试纸的制备,其特征在于:所述量子点与明胶溶液的体积比为1~2。
6.根据权利要求4中所述的一种比色检测硫离子检测试纸的制备,其特征在于:所述CdTe量子点的发射波长在520nm至540nm之间。
7.根据权利要求4中所述的一种比色检测硫离子检测试纸的制备,其特征在于:所述CdTe量子点的浓度为1×10-8至5×10-6 M。
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