[发明专利]芯片及其测试方法

权利要求书

1.一种芯片测试方法，包含：

由一编码电路输出多个测试序列至多个扫描链；

由所述多个扫描链依据所述多个测试序列产生多个扫描输出数据；以及

由一解码电路依据所述多个扫描输出数据判断所述多个扫描链是否存在错误。

2.如权利要求1所述的芯片测试方法，包含：

由多个多工器于一扫描链测试模式时传送所述多个测试序列至所述多个扫描链；以及

由一模式切换电路输出一控制信号至所述多个多工器，以切换所述多个多工器至该扫描链测试模式。

3.如权利要求1所述的芯片测试方法，其中所述多个扫描输出数据包含一最大长度，其中该芯片测试方法还包含：

由一补位电路对所述多个扫描输出数据进行补位处理，以产生长度相同的多个补位后数据；以及

由该补位电路进行补位处理以使所述多个扫描输出数据的长度相等于该最大长度。

4.一种芯片，包含：

多个扫描链；

一编码电路，用以输出多个测试序列至所述多个扫描链；以及

一解码电路，用以由所述多个扫描链接收多个扫描输出数据，并依据所述多个扫描输出数据判断所述多个扫描链是否存在错误，其中所述多个扫描输出数据是由所述多个扫描链依据所述多个测试序列所产生。

5.如权利要求4所述的芯片，还包含：

多个多工器，耦接于编码电路以及所述多个扫描链，用以依据一控制信号以切换至一扫描链测试模式，并于切换至该扫描链测试模式时传送所述多个测试序列至所述多个扫描链；以及

一模式切换电路，用以输出该控制信号至所述多个多工器。

6.如权利要求4所述的芯片，还包含：

一多工器，用以依据一控制信号输出一致能信号至所述多个扫描链，以使所述多个扫描链操作于一扫描链测试模式；以及

一模式切换电路，用以输出该控制信号至该多工器。

7.如权利要求4所述的芯片，其中该解码电路包含：

一补位电路，用以对所述多个扫描输出数据进行补位处理，以产生长度相同的多个补位后数据。

8.如权利要求7所述的芯片，其中该解码电路还用以依据所述多个补位后数据产生一判断数据，其中该判断数据用以指示所述多个扫描链是否存在错误。

9.如权利要求7所述的芯片，其中所述多个扫描输出数据包含一最大长度，其中该补位电路还用以使所述多个扫描输出数据的长度相等于该最大长度。

10.如权利要求4所述的芯片，其中该编码电路还用以接收多个扫描输入数据，并依据所述多个扫描输入数据以及至少一检查数据以产生所述多个测试序列。