[发明专利]基于多属性研究的断溶体特征增强方法和装置

权利要求书

1.一种基于多属性研究的断溶体特征增强方法，其特征在于，所述方法包括：

计算断溶体信号剖面的多个纹理属性；

计算断溶体信号剖面的多个结构张量属性；

从所述多个纹理属性和所述多个结构张量属性中选择多个优选属性；

根据所述多个优选属性进行属性降维化聚类，得到最终的断溶体聚类剖面。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述断溶体信号剖面是对原始断溶体地震剖面进行二维经验模式分解(bemd)后得到的剖面。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算断溶体信号剖面的多个纹理属性包括：

根据断溶体信号剖面的灰度共生矩阵，计算断溶体信号剖面的熵属性、能量属性和对比度属性。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算断溶体信号剖面的多个结构张量属性包括：

计算三维地震数据体每一点梯度矢量方向导数；

根据所述矢量方向导数重构梯度结构张量；

采用不同的高斯窗参数对梯度结构张量的每一个成分进行平滑测试，根据获取剖面结果的抗噪性以及边界提取的凸显程度选取最优结果；

根据所述最优结果计算梯度结构张量的多个特征值，作为多个结构张量属性。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于下列中的一者或多者从所述多个纹理属性和所述多个结构张量属性中选择多个优选属性：

属性对应的剖面的连接性；

属性对应的剖面的边界清晰度；

属性对应的剖面的背景噪声。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个优选属性进行属性降维化聚类，得到最终的断溶体聚类剖面，包括：

步骤401，给出C个类为初始的聚类中心剖面；

步骤402，在第k次迭代中，针对每个属性数据，计算对应的属性数据剖面到C个聚类中心剖面的距离；

步骤403，根据当前的聚类结果，更新聚类中心剖面；

步骤404，如果步骤402计算的距离值保持不变，则迭代结束；否则回到步骤402，进入下一次迭代。

7.一种基于多属性研究的断溶体特征增强装置，其特征在于，所述装置包括：

纹理属性提取单元，用于计算断溶体信号剖面的多个纹理属性；

结构张量属性提取单元，用于计算断溶体信号剖面的多个结构张量属性；

属性优选单元，用于从所述多个纹理属性和所述多个结构张量属性中选择多个优选属性；

降维聚类单元，用于根据所述多个优选属性进行属性降维化聚类，得到最终的断溶体聚类剖面。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述断溶体信号剖面是对原始断溶体地震剖面进行二维经验模式分解(bemd)后得到的剖面。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，基于下列中的一者或多者从所述多个纹理属性和所述多个结构张量属性中选择多个优选属性：

属性对应的剖面的连接性；

属性对应的剖面的边界清晰度；

属性对应的剖面的背景噪声。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述降维聚类单元具体用于：

步骤401，给出C个类为初始的聚类中心剖面；

步骤402，在第k次迭代中，针对每个属性数据，计算对应的属性数据剖面到C个聚类中心剖面的距离；

步骤403，根据当前的聚类结果，更新聚类中心剖面；

步骤404，如果步骤402计算的距离值保持不变，则迭代结束；否则回到步骤402，进入下一次迭代。