[发明专利]一种辐射计校准用光源系统在审

专利信息
申请号: 201910977230.6 申请日: 2019-10-14
公开(公告)号: CN110657886A 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 李超辰;邓玉强;孙青 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01J1/08 分类号: G01J1/08;G01J3/10;G01J5/08
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李佳
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐射光源 辐射计 光辐射 校准 导光 反射 调节器 辐照 高色温 内臂 内壳 辐射式热流计 辐射传感器 准确度 背景辐射 反射内壁 辐射光场 光源系统 结构外壳 均匀辐照 均匀性好 开关挡板 冷媒冷却 冷却管路 总辐射表 辐射 辐射热 辐照场 辐照度 高辐照 高能效 后法兰 均匀化 连接件 前法兰 全光谱 标定 导出 光谱 量限 外臂 照度 会聚 拓展
【说明书】:

一种辐射计校准用光源系统,用于辐射热计、辐射式热流计、总辐射表、全光谱辐射计、辐射传感器等在高色温高辐照度条件下的标定和校准,包括:辐射光源、辐射光源连接件、反射内壳、结构外壳、后法兰、前法兰、辐射调节器、导光内臂、导光外臂、开关挡板和冷却管路。辐射光源发出光辐射,通过反射内壁收集辐射光源发出的光辐射,向前会聚辐出;通过导光内臂将光辐射导出并使辐射光场空间均匀化,通过辐照调节器调节辐照度和辐照光谱;在反射内壳、反射外壳之间留有间隙,通过冷媒冷却。本发明可提供高色温下50kW/m2以上的均匀辐照场,具有辐射照度高、辐照场均匀性好、高能效和无背景辐射干扰等优点,可拓展辐射计校准量限并提高准确度。

技术领域

本发明涉及光辐射计量技术领域,尤其涉及一种辐射计校准用光源系统,用于辐射热计、辐射式热流计、总辐射表、全光谱辐射计、辐射传感器等辐射计的标定校准。

背景技术

辐射计是用来测量辐射度的测量仪器,包括辐射热计、辐射式热流计、总辐射表、全光谱辐射计、辐射传感器等。在劳动卫生、高温作业、采暖通风、太阳发电、采矿冶金、航空航天、气象观测、地球辐射平衡监测等领域应用广泛。为保障辐射计的量值准确可靠,需对辐射计进行计量校准。

辐射计校准用光源的光谱、辐照度、辐照场空间均匀性和背景辐射,是影响计量校准结果的重要因素。为使计量校准结果准确可靠,校准用光源应当具有以下特性:1.接近辐射计实际使用场景的光谱;2.达到或超越辐射计实际使用场景的辐照度;3.良好的空间均匀性;4.尽量小的背景辐射干扰。从而避免由辐射计自身的光谱吸收带宽、线性、空间复位精度和背景辐射干扰引起的校准误差。

传统的辐射计校准用光源,主要包括激光、黑体炉、标准灯、太阳模拟器、石墨、电热丝等。各辐射计校准用光源在光谱、辐照度、空间均匀性、背景辐射干扰方面的特性如图1所示,图1为传统辐射计校准用光源特性比较的示意图。激光辐照度大,准直性好,但是波段窄、辐射面积较小且辐射光场不均匀;黑体辐射源波段宽,但色温偏低,主要用于红外测温等方面;光强标准灯色温一般在2000K左右,光辐射场向四周空间发散,均匀性一般,辐照度较小;太阳模拟器具有良好的准直性与均匀性,但辐照度约1kW/m2,且难以提升,谱线在红外区与黑体辐射曲线相差大,一般只适用于校准响应光谱小于3000nm的太阳辐射表或标准太阳电池;石墨与电热丝辐照度大,但在空气中使用时易氧化,一般在低色温下工作,且使用时易产生强烈的背景辐射干扰,影响校准结果的准确度。

近年在航空、航天、冶金和消防等领域,高色温条件下的高辐照度辐射计计量需求日益增长。然而,目前传统的辐射计校准用光源普遍采用光强标准灯校准,光谱辐照度低,光场均匀性一般,难以同时满足高辐照度和高空间均匀性的要求,限制了辐射计的校准量程上限和校准结果的不确定度,对辐射计在高色温高辐照场景使用时的量值准确造成阻碍。

发明内容

(一)要解决的技术问题

有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种辐射计校准用光源系统,以满足高辐照度和高空间均匀性的要求,使被校辐射计能够准确应用于高色温高辐照场景,提高校准准确度。

(二)技术方案

为达到上述目的,本发明提供了一种辐射计校准用光源系统,包括:

一辐射光源110,用于产生光辐射和热辐射;

一辐射光源连接件120,连接于所述辐射光源110,用于为所述辐射光源110提供机械支撑,并提供热隔绝或冷却;

一电源130,连接于所述辐射光源110,用于给所述辐射光源110供电;

一反射内壳210,具有前开口、后开口和内壁,所述前开口作为光辐射出口,所述后开口用于放置所述辐射光源110,所述内壁为抛光反射面,用于将所述辐射光源110产生的辐射向前端会聚辐出;

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