[发明专利]光伏组件PID失效现场测试方法及用于该方法的检测设备在审
申请号: | 201910978740.5 | 申请日: | 2019-10-15 |
公开(公告)号: | CN112671338A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 马跃;蒋文俊 | 申请(专利权)人: | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团股份有限公司 |
主分类号: | H02S50/15 | 分类号: | H02S50/15 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 张炜平 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 组件 pid 失效 现场 测试 方法 用于 检测 设备 | ||
本发明提供了一种光伏组件PID失效现场测试方法及用于该方法的检测设备,其中所涉及现场测试方法包括获取待测光伏组件边缘电池串的第一填充因子与光伏组件中间电池串的第二填充因子,并将所述第一填充因子与所述第二填充因子进行比较,若所述第一填充因子相对所述第二填充因子的减小幅度超过既定阈值,则判断该光伏组件出现PID失效;采用本发明所提供的光伏组件PID失效现场测试方法,通过对同一光伏组件边缘电池串与中间电池串的填充因子进行对比,并基于其差值幅度即可快速判定该光伏组件是否PID失效,本发明所提供的现场测试方法操作简洁,无需进行EL检测,适用于项目现场的光伏组件的快速检测。
技术领域
本发明涉及光伏组件检测技术领域,特别涉及一种光伏组件PID失效现场测试方法及用于该方法的检测设备。
背景技术
PID效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减,是指光伏组件在长期高电压工作过程中,在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池片表面的钝化效果恶化,导致填充因子、短路电流、开路电压降低,使组件性能低于设计标准的现象。
传统光伏组件的PID失效测试主要通过功率和EL成像对比实现,PID现象发生时,通过EL(Electroluminescence)成像可以看到部分电池片发黑。但上述光伏组件的测试方法对设备及环境条件要求较为苛刻,测试效率较低,项目现场难以进行。
鉴于此,有必要提供一种解决以上问题的技术方案。
发明内容
本发明目的在于提供一种光伏组件PID失效现场测试方法,操作便捷,便于对项目现场的光伏组件进行快速测试与PID失效判断。
为实现上述发明目的,本发明提供光伏组件PID失效现场测试方法,该测试方法包括:获取待测光伏组件边缘电池串的第一填充因子与光伏组件中间电池串的第二填充因子;将所述第一填充因子与所述第二填充因子进行比较,若所述第一填充因子相对所述第二填充因子的减小幅度超过既定阈值,则判断该光伏组件出现PID失效。
进一步,所述第一填充因子的获取步骤包括:遮挡所述光伏组件除所述边缘电池串外的其它电池串,检测此时所述光伏组件的开路电压Voc及短路电流Isc;选择与所述光伏组件内阻一致的负载电阻,将所述负载电阻的两端分别与所述光伏组件的正极引线与负极引线电性连接,检测此时所述负载电阻的工作电压Vmpp与工作电流Impp;由公式FF1=(Vmpp*Impp)/(Voc*Isc)计算即可得第一填充因子。
进一步,所述第二填充因子的获取步骤包括:遮挡所述光伏组件除所述中间电池串外的其它电池串,检测此时所述光伏组件的开路电压Voc及短路电流Isc;选择与所述光伏组件内阻一致的负载电阻,将所述负载电阻的两端分别与所述光伏组件的正极引线与负极引线电性连接,检测此时所述负载电阻的工作电压Vmpp与工作电流Impp;由公式FF2=(Vmpp*Impp)/(Voc*Isc)计算即可得第二填充因子。
进一步,所述光伏组件的内阻由公式r=Voc/Isc计算获取。
进一步,所述既定阈值不小于10%。
进一步,所述快速测试方法还包括将所述边缘电池串的开路电压与所述边缘电池串的开路电压进行比较。
此外,本发明还提供了一种用于光伏组件PID失效现场测试的检测设备,所述检测设备包括:用于连接至所述光伏组件正极引线与负极引线之间的变阻器、与所述变阻器串联的电流表、获取所述变阻器工作电压的电压表、以及用以遮挡所述光伏组件以限定所述光伏组件受光区域的挡板。
本发明的有益效果是:基于本发明所提供的光伏组件PID失效现场测试方法,通过对同一光伏组件边缘电池串与中间电池串的填充因子进行对比,并基于其差值幅度即可快速判定该光伏组件是否PID失效,本发明所提供的现场测试方法操作简洁,无需进行EL检测,适用于项目现场的光伏组件的快速检测。
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