[发明专利]一种继电器寿命检测方法

说明书

一种继电器寿命检测方法，由包括控制器单元、L个通断计数单元、人机界面单元、继电器驱动单元、振荡器单元的装置实现，能够同时对多个继电器开关的通断次数分别进行计数得到通断计数值，并依据通断计数值来判断继电器及其开关是否失效；通断计数单元中的抗脉冲干扰电路能够滤除计数脉冲中的边沿抖动干扰和窄脉冲干扰，保证了继电器寿命检测的精确性；采用在控制器单元外部设置多个计数器分别对继电器开关的通断次数进行计数的方式，同时检测继电器寿命的继电器开关数量不受控制器单元内部计数器数量的限制。

本发明专利申请为分案申请，原案申请号为201711133937.6，申请日为2017年11月16日，发明名称为继电器寿命检测装置。

技术领域

本发明涉及测试方法与装置领域，尤其是一种继电器寿命检测方法。

背景技术

继电器寿命一般在几万次至数十万次。模拟继电器的使用条件，通过控制继电器动作使其开关通断产生电脉冲，然后对电脉冲进行计数，可以测试继电器寿命。继电器动作所产生的电脉冲含有边沿抖动，直接对未处理的脉冲进行计数，会产生极大的误差。使用MCU软件延时方式去除抖动脉冲的影响，当MCU需要同时对多个继电器开关进行寿命测试时，MCU的软件延时方式会使MCU力不从心。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种继电器寿命检测方法，包括：

步骤1，初始化，包括将L个继电器开关的检测标志均置为在检状态，寿命计数器清0，发出清0信号使L个通断计数值全部清0；

步骤2，控制L个继电器开关通断一次，同时对L个继电器开关的通断次数分别进行计数得到L个通断计数值；寿命计数器进行加1计数；

步骤3，读取当次L个通断计数值；

步骤4，逐个对检测标志为在检状态的继电器开关是否失效进行判断；将本次被判断为失效继电器开关的检测标志置为停检状态，同时将当前寿命计数器的计数值作为该次被判断为失效继电器开关的寿命值；

步骤5，L个继电器开关的检测标志中仍有在检状态者，返回步骤2，否则停止检测。

对检测标志为在检状态的继电器开关是否失效进行判断，方法是，待判断继电器开关累计W次的当次通断计数值与前次通断计数值不是增1关系时，则该继电器开关失效，否则未失效；所述W为大于等于2的整数。

对L个继电器开关的通断次数分别进行计数，由L个结构与组成相同的通断计数单元实现；通断计数单元包括脉冲产生电路、抗脉冲干扰电路和三态输出计数电路。脉冲产生电路输出由继电器开关通断所产生的初始脉冲至抗脉冲干扰电路；抗脉冲干扰电路对初始脉冲进行脉冲滤波，输出计数脉冲；三态输出计数电路对计数脉冲进行计数，输出通断计数值。

所述抗脉冲干扰电路包括可逆限幅计数器、比较阈值设定器、上限值比较器、下限值比较器、RS触发器。可逆限幅计数器的输入为初始脉冲和采样时钟脉冲，输出为对采样时钟脉冲进行计数的限幅累积计数值；比较阈值设定器的输出为上限比较阈值和下限比较阈值；上限值比较器的输入为限幅累积计数值和上限比较阈值，输出为第一置位信号；下限值比较器的输入为限幅累积计数值和下限比较阈值，输出为第二置位信号；RS触发器的输入为第一置位信号和第二置位信号，输出为计数脉冲；所述限幅累积计数值的下限幅值为0，上限幅值为N；所述N为大于等于2的整数；所述上限比较阈值为大于N/2且小于等于N的整数，下限比较阈值为大于等于0且小于N/2的整数。

所述可逆限幅计数器的功能是，由初始脉冲的电平状态控制可逆限幅计数器处于加计数状态还是减计数状态；可逆限幅计数器处于加计数状态且限幅累积计数值大于等于上限幅值N时，不对采样时钟脉冲进行加计数；可逆限幅计数器处于减计数状态且限幅累积计数值等于下限幅值0时，不对采样时钟脉冲进行减计数。