[发明专利]一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法

说明书

本发明公开一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法，通过测角仪同倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现同倾法对材料及材料制品的残余应力测量；通过测角仪侧倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现侧倾法对材料及材料制品的残余应力测量；固定射线源旋转角θs、探测器旋转角θd在晶面{H,K,L}的衍射角，旋转测角仪侧倾装置，使测角仪等分角度旋转，转台旋转总成在360度内等距采集数据，完成完整极图测量。本发明为新材料研究及关键零部件的可靠性提供最可靠的检测手段，可实现对多领域的材料结构、不规则形状的零部件进行残余应力分析、残余奥氏体含量及织构精确测量。

技术领域

本发明涉及一种零部件应力测定技术，具体为一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法。

背景技术

目前随着新材料的不断开发，新材料广泛的使用于各个领域，越来越多的新材料走进到人们生活当中。国内科研机构对新材料应力测定的使用越来越多，要求的越来越高，其设备大多来自进口，而进口设备的使用不能完全满足检测要求，且价格惊人，维修时间太长，维护成本过高，在一定程度上阻碍了新材料的应力分析，无法实现对多领域的材料结构、不规则形状的零部件的残余应力分析、残余奥氏体含量及织构精确测量。

各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中，适当的残余应力可能成为零件强化的因素，不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷。在加工以后，残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。一个构件残余应力状态如何，是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计、提高工艺效果、检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。

因此在X射线应力测定这一领域迫切需要一种检测装置，来满足目前越来越多的应力分析检测的使用要求。

发明内容

针对现有技术中零部件应力测定装置无法实现对多领域新材料结构、不规则形状的零部件的残余应力分析等不足，本发明要解决的问题是提供一种可为新材料研究及关键零部件的可靠性提供最可靠的检测手段的X射线应力测定仪检测装置的检测方法。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：

本发明一种X射线应力测定仪检测装置的检测方法，包括以下步骤：

1)通过测角仪同倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现同倾法对材料及材料制品的残余应力测量；

2)通过测角仪侧倾装置，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角进行步进扫描，实现侧倾法对材料及材料制品的残余应力测量；

3)固定射线源旋转角θs、探测器旋转角θd在晶面{H,K,L}的衍射角，旋转测角仪侧倾装置，使测角仪等分角度旋转，转台旋转总成在360度内等距采集数据，完成完整极图测量；

X射线应力测定仪检测装置包括测角仪同倾装置、测角仪侧倾装置、四轴检测平台以及壳体总成，其中，测角仪同倾装置、测角仪侧倾装置以及四轴检测平台均安装于壳体总成内，壳体总成中设有安装平台，测角仪侧倾装置通过支架底板固定安装于安装平台上；四轴检测平台固定安装于支架底板上，测角仪同倾装置安装于测角仪侧倾装置的支撑板上，被测零部件放置在四轴检测平台上。

步骤1)中，实现同倾法对材料及材料制品的残余应力测量为：

101)将被测零部件放在转台上板上，控制四轴检测平台中的转台升降总成使转台上板升或降，启动激光测距定位装置对被测零部件进行定位，自动确定样品衍射平面；

102)选择样品2θ角在110-170°的晶面{H,K,L}，设置2θ角测量范围，设置测角仪同倾装置倾斜角Ψ为0°，控制射线源旋转θs角、探测器旋转θd角在2θ角范围进行步进扫描，探测器记录一组衍射谱图；