[发明专利]高低温试验箱、高低温试验装置及其控制方法在审

专利信息
申请号: 201910982020.6 申请日: 2019-10-16
公开(公告)号: CN110732353A 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 邓献奇;涂平;徐循阔 申请(专利权)人: 深圳市大稳科技有限公司
主分类号: B01L1/00 分类号: B01L1/00;B01L7/00;G01K13/00
代理公司: 44414 深圳中一联合知识产权代理有限公司 代理人: 袁哲
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区龙岗街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 降温室 升温室 减小 高低温试验箱 热容量 额外能耗 高低温试验装置 设备运行成本 测试对象 低温室 高温室 两段 高低温交变环境 环境试验装置 多室结构 降温过程 升温过程 温度稳定 循环移动 申请
【说明书】:

本申请属于环境试验装置技术领域,尤其涉及高低温试验箱、高低温试验装置及其控制方法。该高低温试验箱采用多室结构,包括高温室、第一降温室、第二降温室、低温室、第一升温室和第二升温室,测试对象在高低温试验箱中的不同室中循环移动,能够给测试对象提供高低温交变环境。由于高温室和低温室温度稳定,热容量不产生额外能耗;降温过程分成第一降温室与第二降温室两段,升温过程分成第一升温室与第二升温室两段,降温室和升温室热容量的温度变化因而减小,从而有助于减小其热容量引起的额外能耗,减小设备运行成本。在高低温试验装置及其控制方法中,由于采用上述高低温试验箱,同样能够减小其热容量引起的额外能耗,减小设备运行成本。

技术领域

本申请属于环境试验装置技术领域,尤其涉及高低温试验箱、高低温试验装置及其控制方法。

背景技术

高低温试验装置是很多产品在研发过程中必须的测试装置,通常在测试时高温和低温需要维持较长时间,而由高温到低温的降温段或由低温到高温的升温段时间较短,许多测试对象仅要求在高温段和低温段发热,有些则要求在整个测试周期内都发热。目前常规的高低温试验装置,装置的热容量会产生额外能耗,导致装置运行费用高。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种高低温试验箱、高低温试验装置及其控制方法,以解决现有的高低温试验装置的热容量会产生额外能耗的技术问题。

本申请实施例提供一种高低温试验箱,包括:

高温室,用于容纳测试对象并对其加热或降温,所述高温室包括高温室箱体及设于所述高温室箱体的高温室门;

第一降温室,用于容纳来自所述高温室的测试对象并对其降温;

第二降温室,用于容纳来自所述第一降温室的测试对象并对其降温,所述第二降温室与所述第一降温室相邻设置;

低温室,用于容纳来自所述第二降温室的测试对象并对其加热或降温,所述低温室包括低温室箱体及设于所述低温室箱体的低温室门;

第一升温室,用于容纳来自所述低温室的测试对象并对其加热;

第二升温室,用于容纳来自所述第一升温室的测试对象并对其加热,所述第二升温室与所述第一升温室相邻设置;以及

控制装置,用于控制所述高温室、所述第一降温室、所述第二降温室、所述低温室、所述第一升温室与所述第二升温室的温度按设定变化曲线变化。

可选地,所述高温室还包括用于对所述高温室箱体内部提供气流的高温室风机、设于所述高温室箱体内的高温室电加热器,以及用于检测所述高温室箱体温度的高温室温度传感器;

和/或,所述第一降温室包括第一降温室箱体、用于对所述第一降温室箱体内部提供气流的第一降温室风机,以及用于检测所述第一降温室箱体温度的第一降温室温度传感器;

和/或,所述第二降温室包括第二降温室箱体、用于对所述第二降温室箱体内部提供气流的第二降温室风机,以及用于检测所述第二降温室箱体温度的第二降温室温度传感器;

和/或,所述低温室还包括用于对所述低温室箱体内部提供气流的低温室风机、设于所述低温室箱体内的低温室电加热器,以及用于检测所述低温室箱体温度的低温室温度传感器;

和/或,所述第一升温室包括第一升温室箱体、用于对所述第一升温室箱体内部提供气流的第一升温室风机,以及用于检测所述第一升温室箱体温度的第一升温室温度传感器;

和/或,所述第二升温室包括第二升温室箱体、用于对所述第二升温室箱体内部提供气流的第二升温室风机、设于所述第二升温室箱体内的第二升温室电加热器,以及用于检测所述第二升温室箱体温度的第二升温室温度传感器。

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