[发明专利]射频芯片引脚阻抗测试方法

权利要求书

1.一种射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，包括：

测试测试板上单个测试夹具的散射参数；

测试负载调谐器与所述测试夹具连接端口的阻抗参数；

根据所述测试夹具的散射参数和所述阻抗参数得到射频芯片输出引脚的负载阻抗；

所述射频芯片输出引脚的负载阻抗由公式计算方法得出；

所述公式计算方法包括：

将所述测试夹具的散射参数转换为Z参数；

利用所述Z参数和所述阻抗参数计算得到所述射频芯片输出引脚的负载阻抗。

2.根据权利要求1所述的射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，所述射频芯片输出引脚的负载阻抗由仿真方法得出。

3.根据权利要求2所述的射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，所述仿真方法包括：

在仿真系统中搭建等效电路模型，其中所述测试夹具的散射参数和所述阻抗参数级联；

进行仿真得到所述射频芯片输出引脚的负载阻抗。

4.根据权利要求1所述的射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，所述将所述测试夹具的散射参数转换为Z参数具体为：

根据以下算式计算

测试夹具的散射参数转换为Z参数的公式为：

其中，S₁₂为反向传输系数，S₂₁为正向传输系数，S₁₁为输入反射系数，S₂₂为输出反射系数，Z₀为归一化阻抗。

5.根据权利要求4所述的射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，所述利用所述Z参数和所述阻抗参数计算得到所述射频芯片输出引脚的负载阻抗具体为：

根据以下算式计算所述射频芯片输出引脚的负载阻抗：

其中，Z_out为所述射频芯片输出引脚的负载阻抗，Z_tuner为负载调谐器与所述测试夹具连接端口的阻抗参数。

6.根据权利要求1所述的射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，所述测试单个测试夹具的散射参数的方法包括：

利用矢量网络分析仪测试校准夹具的散射参数；

根据所述校准夹具的散射参数转换得出所述测试夹具的散射参数。

7.根据权利要求6所述的射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，所述根据所述校准夹具的散射参数转换得出所述测试夹具的散射参数具体为：

利用PLTS软件对所述校准夹具的散射参数进行仿真得到所述测试夹具的散射参数。

8.根据权利要求1所述的射频芯片引脚阻抗测试方法，其特征在于，所述测试负载调谐器与所述测试夹具连接端口的阻抗参数具体为：

通过矢量网络分析仪测试负载调谐器与所述测试夹具连接端口得到所述阻抗参数。