[发明专利]一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统

权利要求书

1.一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：包括采样加样器（3）和用于辅助采样加样器（3）进行采样的采样辅助器；

采样加样器（3）包括试样管（304）、可滑动插设在试样管（304）末端的推进杆（302）以及可拆卸连接在试样管（304）头端的采样针（306），在试样管（304）上设有用于与采样辅助器配合安装的装配凸起（305），在推进杆（302）上设有供采样辅助器推动推进杆（302）滑动以进行采样的推进帽（301）；

采样辅助器包括管体（2）以及设置在管体（2）上的采样执行装置（4）和采样量调节装置（1）；管体（2）包括可拆卸连接的上槽盖（202）和下槽盖（201），上槽盖（202）和下槽盖（201）的槽体部分相对配合以共同形成用于容纳采样加样器（3）和采样量调节装置（1）的管腔，在与管腔前端相对应的上槽盖（202）和下槽盖（201）的内侧均开设有供装配凸起（305）配合安装的装配槽（6）；采样执行装置（4）包括滑动设置在下槽盖（201）上并靠近装配槽（6）位置的提升杆（403），在下槽盖（201）上沿下槽盖（201）长度方向开设有供提升杆（403）滑动配合的条状滑孔（8），提升杆（403）的一端穿过条状滑孔（8）插设在管腔中并固定设有拨叉（402），拨叉（402）与推进帽（301）朝向采样针（306）的一侧接触配合，提升杆（403）的另一端位于管腔外部并固定设有提升滑块（401）；采样量调节装置（1）包括可转动设置于管腔中的调节轴（103）和可沿管腔长度方向滑动设置于管腔中的限位头（104），限位头（104）设置在采样加样器（3）和调节轴（103）之间的位置，限位头（104）朝向采样加样器（3）的一侧用于与推进帽（301）接触配合以限位推进帽（301）的滑动位置，限位头（104）朝向调节轴（103）的一侧与调节轴（103）螺纹连接，并可通过转动调节轴（103）来调节限位头（104）的限位位置。

2.根据权利要求1所述的一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：上槽盖（202）包括与采样加样器（3）位置相对应的活动盖（202-2）和与采样量调节装置（1）的位置相对应的固定盖（202-1），活动盖（202-2）的一侧与下槽盖（201）铰连，另一侧固定设有用于与开设于下槽盖（201）上的固定孔配合安装的固定柱，固定盖（202-1）通过螺钉可拆卸连接在下槽盖（201）上。

3.根据权利要求2所述的一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：在固定盖（202-1）上设有供观察限位头（104）位置的观察窗（9），观察窗（9）沿固定盖（202-1）长度方向开设，并在固定盖（202-1）上靠近观察窗（9）的位置设有刻度线。

4.根据权利要求1所述的一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：装配凸起（305）为环形并设置在试样管（304）头端的外缘位置，推进帽（301）为圆盘形并设置在推进杆（302）的末端。

5.根据权利要求1所述的一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：在调节轴（103）与管腔之间设有用于避免调节轴（103）沿管腔长度方向移动的轴向限位机构，轴向限位机构包括固定在调节轴（103）上的限位环（102）和开设在上槽盖（202）和下槽盖（201）对应位置的限轴向限位槽（5），限位环（102）转动设置在轴向限位槽（5）中；在限位头（104）和管腔之间设有用于避免限位头（104）相对于管腔转动的周向限位机构，周向限位机构包括固定在调节轴（103）上的限位条（105）和开设在上槽盖（202）和下槽盖（201）对应位置的周向限位槽（7），限位条（105）卡接在周向限位槽（7）中。

6.根据权利要求1所述的一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：调节轴（103）的末端位于管腔外部并固定设有用于驱动调节轴（103）转动的转盘（101）。

7.根据权利要求1所述的一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：下槽盖（201）的外侧设有沿下槽盖（201）长度方向分布的滑轨（12），提升滑块（401）滑动设置在滑轨（12）上。

8.根据权利要求1所述的一种用于微控流芯片实验的试样采加样系统，其特征在于：提升滑块（401）上设有多条防滑条。