[发明专利]分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法

说明书

本发明提供一种分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法。所述分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法包括以下步骤：S1：将探头和主机进行连接；S2：在上颌唇部横切面上扫描以识别牙位，将探头置于牙齿中心并旋转180度，获得牙齿及牙周组织的矢状切面图像，在矢状面图像上可以清晰识别牙龈及牙槽嵴顶等解剖标志，应用软件，在矢状面上测量上颌牙齿唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度；S3：在下颌唇部横切面上扫描以识别牙位，将探头置于牙齿中心并旋转180度。本发明提供的分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法具有无需麻醉、无创伤、无辐射、无不适感，可测量10mm宽度范围内牙齿的平均厚度的优点。

技术领域

本发明涉及医疗技术领域，尤其涉及一种分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法。

背景技术

了解牙龈厚度和牙槽骨厚度在口腔疾病治疗过程中是非常重要的。牙龈厚度通常指唇侧(前牙)或者颊侧(后牙)的牙龈厚度。不同唇侧/颊侧牙龈厚度和牙槽骨厚度直接影响牙周病临床表现及治疗效果、牙槽外科手术和牙种植术的术后效果。当唇侧/颊侧存在较厚的牙龈和牙槽骨，牙周炎的表现往往表现为存在深牙周袋，而如果唇侧/颊侧的牙龈及牙槽骨较薄，患者往往出现牙龈退缩牙根暴露的临床表现。唇侧/颊侧牙龈和牙槽骨厚度除了影响牙周病的表现及牙周基础治疗的效果外，还会影响根面覆盖术和牙种植术后的效果。牙龈厚度被证明是影响根面覆盖术后效果最重要的因素，另外，种植体周围的牙龈厚度超过2mm显著减小了术后植体暴露的风险。

目前牙龈厚度的测量可分为侵入性和非侵入性两种方法。侵入性的方法即穿刺测量法主要指局麻下用牙周探针或者注射针刺入牙龈达骨面并测量刺入深度。非侵入性的测量方法如下：(1)、观测龈沟牙周探针透明度的方法。将牙周探针探入龈沟中，若可视及牙周探针的轮廓，则为薄型牙龈，若不可视及探针的轮廓，则视为厚型牙龈；(2)、CBCT软组织测量法：即借助CBCT来分析牙龈厚度的方法。与穿刺测量法相比，CBCT具有创伤小，测量腭侧牙龈厚度较为方便等优点，但口腔内有烤瓷冠、金属充填体会干扰成像，另一个缺点在测量牙龈厚度的过程中，患者将会暴露于放射线中；(3)、A型超声：也称一维超声，将超声仪器的探头放在湿润的牙齿表面即可测量并计算牙龈厚度。该方法的优点是可以快速得出某一点的牙龈厚度且无辐射。缺点是只能测量牙龈某一点的厚度，无法测量牙龈的平均厚度，且选取测量点的可重复性较差；不能获得牙周组织解剖结构的清晰图像。关于牙槽骨厚度，目前主要是应用CBCT的方法进行测量。其优点是可以同时测量唇/颊侧及腭侧的牙槽骨厚度，缺点是存在辐射。

因此，有必要提供一种新的分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法解决上述技术问题。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种无需麻醉、无创伤、无辐射、无不适感，可测量10mm宽度范围内牙齿的平均厚度的分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法。

为解决上述技术问题，本发明提供的分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法包括以下步骤：S1：将探头和主机进行连接；S2：在下颌唇部横切面上扫描以识别牙位，将探头置于牙齿中心并旋转180度，获得牙齿及牙周组织的矢状切面图像，在矢状面图像上可以清晰识别牙龈及牙槽嵴顶等解剖标志，应用蓝韵工作站软件，在矢状面上测量下颌牙齿唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度；S3：在下颌唇部横切面上扫描以识别牙位，将探头置于牙齿中心并旋转180度，获得牙齿及牙周组织的矢状切面图像，在矢状面图像上可以清晰识别牙龈及牙槽嵴顶等解剖标志，应用软件，在矢状面上测量下颌牙齿唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度。

优选的，所述S1中，主机的型号为Logiq E9。

优选的，所述S1中，探头的型号为ML6-15，且探头的工作宽度为10mm。

优选的，所述S3和所述S2中，所应用的软件均为蓝韵工作站软件。

与相关技术相比较，本发明提供的分析唇/颊侧牙龈厚度和牙槽嵴顶骨厚度的方法具有如下有益效果：