[发明专利]一种LED照明产品预期寿命评价方法

说明书

一种LED照明产品预期寿命评价方法，步骤如下：1.将老化试验过程中采集得到的受试LED照明产品光通量衰减测试数据对数化；2.基于老化试验数据，计算给定置信度下(如90％)光通量衰减模型参数的置信区间；3.预测受试LED照明产品老化至给定预期寿命时，其光通量的统计分布，获得概率密度曲线，进而计算受试LED照明产品衰减后的光通量满足最小光通量要求(即光通量初始值的70％)的可靠度；4.指定可靠度阈值(如0.9)，若由第三步计算得出的可靠度不小于该阈值，判定受试LED照明产品寿命达到预期要求，否则判定其寿命没有达到预期要求。

所属技术领域

本发明涉及一种对LED照明产品预期寿命的评价方法，属于半导体照明领域。

背景技术

随着半导体照明技术在照明领域应用的不断发展，如何评价LED产品的预期寿命，使其在寿命周期范围内稳定工作成为目前亟需解决的问题。由此，人们开始对LED产品的寿命评价方法展开研究，相应成果也越来越丰富完善。然而，当前国内外普遍使用的LED产品寿命评价方法(如IES TM-21-11方法)尚未系统考虑测试数据的分散性对产品预期寿命的影响，评价结果的准确性受LED产品测试数据分散性的影响极大，导致大量的劣质LED产品也能够侥幸通过测试评价进入市场，对合格产品的销售造成了非常大的冲击，同时也严重影响了消费者对LED产品的信心。

此外，IES TM-21-11方法在进行寿命预测时只能预测6倍测试时间内的光通量值，而超过6倍测试时间的预期流明则不能给出准确结果。现有LED照明产品的寿命可达5万小时以上，因此如果要预测一批产品的寿命满足5万小时的预期要求，测试时间需要达到9000小时(即至少1年的时间)，如此长的测试时间严重地阻碍了企业新产品研发的进度。因此，为了能够降低测试成本，满足评价精度要求，有必要开发一种评价方法以利用较短测试时间样本数据来精准预测其寿命。

发明内容

本发明的目的是提供一种将数值仿真技术与统计学理论相结合的方法对LED照明产品的预期寿命进行评价。该方法提供了预测寿命参数模型以及利用该模型进行数值仿真，进而对受试产品预期寿命进行评价的流程和算法。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案，具体步骤包括：

第一步：将老化试验过程中采集得到的受试LED照明产品光通量衰减测试数据对数化。

第二步：基于老化试验数据，计算给定置信度下(如90％)光通量衰减模型参数的置信区间。

第三步：预测受试LED照明产品老化至给定预期寿命时，其光通量的统计分布，获得概率密度曲线，进而计算受试LED照明产品老化至预期寿命时，其衰减后的光通量满足最小光通量要求(即光通量初始值的70％)的可靠度。

第四步：指定可靠度阈值，若由第三步计算得出的可靠度不小于该阈值，判定受试LED照明产品寿命达到预期要求，否则判定其寿命没有达到预期要求。针对不同应用场合或不同等级的LED照明产品，可以设定不同的可靠度阈值，例如等级A的LED照明产品可靠度阈值为0.99；等级B的LED照明产品可靠度阈值为0.9；等级C的LED照明产品可靠度阈值为0.85，等等。

本发明通过以上步骤，给出了一种判断LED照明产品寿命是否达到预期要求的评价方法。

本发明的主要优点是：本项目在现有的LED产品寿命评价方法的基础上，研究被测样品老化数据分散程度与其预期寿命准确度的对应关系，并采用可靠度参数量化分析测量数据不确定性对预期寿命的影响，建立了LED产品预期寿命评价方法，同时开发出相应的软件开展应用案例研究。通过本项目的实施，有助于进一步发展LED产品的可靠性测试评价理论，对未来修订LED产品寿命评价标准、加强LED产品的市场规范提供了必要的理论基础。

附图说明

图1为本发明提出的LED照明产品预期寿命评价方法的整体架构