[发明专利]一种化合物薄膜及其制备方法、化合物薄膜太阳电池有效
申请号: | 201910985878.8 | 申请日: | 2019-10-17 |
公开(公告)号: | CN110676351B | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 洪瑞江;张林泉;曾龙龙;曾淳泓;梁云锋;周建;黄培年 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0392;H01L31/0445 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 张伟 |
地址: | 510000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 化合物 薄膜 及其 制备 方法 太阳电池 | ||
1.一种化合物薄膜的制备方法,其特征在于,包括:
将掺有Bi的吸收层前驱体在低温条件下进行退火处理;
其中,Bi的吸收层前驱体通过以下方法制备得到:
在镀钼的钠钙玻璃衬底表面溅射或热蒸发沉积金属Bi层;
在所述金属Bi层上溅射、热蒸发或旋涂沉积吸收层;
且所述金属Bi层的厚度小于或等于100nm,所述吸收层的厚度为1~2μm。
2.根据权利要求1所述的化合物薄膜的制备方法,其特征在于:
所述吸收层的种类至少可选择为铜铟镓硒或铜锌锡硫。
3.根据权利要求2所述的化合物薄膜的制备方法,其特征在于:
当采用溅射方式沉积所述金属Bi层时,溅射气压0.8Pa,溅射功率密度0.679W/cm2,溅射时间20s;
当采用溅射方式沉积所述吸收层时,溅射气压为1.0Pa,溅射功率密度3.395W/cm2,溅射时间100min。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的化合物薄膜的制备方法,其特征在于,在将掺有Bi的吸收层前驱体在低温条件下进行退火处理的步骤中:
低温条件为400~500℃,退火处理是进行硒化退火处理。
5.根据权利要求4所述的化合物薄膜的制备方法,其特征在于:
所述硒化退火处理的过程中,Se气氛至少可选择为固体Se源或含Se的气体Se源,退火过程中还伴随通入惰性保护气体。
6.根据权利要求4所述的化合物薄膜的制备方法,其特征在于:
所述硒化退火处理的过程中,退火过程中的升温速率为10~30℃/min,退火时间为15~60min,退火的气压为2000Pa-1atm。
7.一种化合物薄膜,其特征在于,所述化合物薄膜可用于制备化合物薄膜太阳电池,所述化合物薄膜通过权利要求1至6中任一项所述的化合物薄膜的制备方法制备得到。
8.一种化合物薄膜太阳电池,其特征在于,其通过以下方法制备得到:
在权利要求7所述的化合物薄膜的表面沉积CdS缓冲层;
在所述CdS缓冲层的表面沉积ZnO高阻层;
在所述ZnO高阻层的表面溅射沉积ITO导电层;
通过蒸发制备Ag电极后得到样品;
通过机械划线将所述样品上的电池分隔开后得到所述化合物薄膜太阳电池。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学,未经中山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910985878.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的