[发明专利]一种用于晶体实验研究的线具切割装置

权利要求书

1.一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：包括底座、滑轨、滑块、纵向调节机构、高度调节机构、样品台、切割线以及两个固定杆，两个固定杆分别设置在底座的左右两侧，所述切割线的两端分别与固定杆可拆卸连接，所述滑轨设置在底座上，所述滑块设置在滑轨上，且滑块能沿滑轨左右移动，所述纵向调节机构、高度调节机构分别设置在滑块上，纵向调节机构用于调节样品台的前后横向位置，高度调节机构用于调节样品台的上下高度位置，所述样品台顶部设置有晶体槽，所述晶体槽用于放置晶体。

2.根据权利要求1所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述样品台、纵向调节机构、高度调节机构和滑块自上而下依次设置；滑轨与切割线平行设置；切割线通过螺栓与固定杆连接，在固定杆上设置有至少一个与螺栓相匹配的螺栓孔。

3.根据权利要求1所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述高度调节机构底部设置有底板，底板设置在滑块的上方，且底板通过转轴与滑块转动连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述滑块顶部均匀设置有多个定位孔，所述定位孔位于同一圆周上且环绕转轴设置，所述底板的底部设置有定位插销，所述定位插销通过弹力件与底板连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述弹力件常态下为压缩状态，用于将定位插销推入定位孔中，所述定位插销的侧壁上设置有限位板和拨动板，所述拨动板设置在弹力件和限位板之间，所述限位板设置在定位插销的中部。

6.根据权利要求5所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述底板的底部设置有弹力件槽，所述弹力件设置在弹力件槽内，弹力件的一端与弹力件槽内壁连接，另一端与定位插销的顶部连接，常态下，定位插销的顶部部分位于弹力件槽内。

7.根据权利要求1所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述高度调节机构包括壳体、以及设置在壳体内的套环和升降柱，所述升降柱的顶部与纵向调节机构连接，升降柱的侧壁上设置有齿轮条，壳体的侧壁上设有控制轴，所述控制轴的一端穿过壳体并与壳体内的第一轴承座轴接，控制轴上还套设有第一齿轮，所述第一齿轮设在壳体内，壳体内还设置有第一调节轴、第二调节轴，所述第一调节轴的两端分别与壳体内壁轴接，第一调节轴上套设有第二齿轮和第三齿轮，所述第一齿轮与第二齿轮齿接，所述第二调节轴的一端与壳体内壁轴接，另一端与第二轴承座轴接，第二调节轴上套设有第四齿轮和第五齿轮，所述第四齿轮与第三齿轮齿接，所述第五齿轮与齿轮条齿接，所述套环套设在升降柱上，套环通过支撑杆与壳体内壁连接，所述第一轴承座和第二轴承座分别与支撑杆固定连接。

8.根据权利要求7所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述第一齿轮与第二齿轮的传动比为3～5，所述第二齿轮与第三齿轮的传动比为3～6，所述第三齿轮与第四齿轮的传动比为3～6。

9.根据权利要求8所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述纵向调节机构包括下层板和上层板，所述下层板底部与升降柱连接，下层板的顶部设置有凸台，凸台通过滚珠丝杆与上层板连接，所述样品台设置在上层板上，通过调节滚珠丝杆，实现上层板的纵向移动，从而调节样品台的纵向位置。

10.根据权利要求9所述的一种用于晶体实验研究的线具切割装置，其特征在于：所述滚珠丝杆的螺母与凸台固定连接，滚珠丝杆的螺杆一端与上层板连接，另一端穿过凸台设置；所述套环为半闭合结构，在套环上设置有轴向开口，套环上的开口供第五齿轮穿过，并与齿轮条齿接。