[发明专利]一种基于微控制器的浪涌发生测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种基于微控制器的浪涌发生测试装置及测试方法，本装置包括由复位电路、时钟电路、滤波电路和微控制器构成的微控制器电路；包括微控系统供电电路；包括由第一、第二光电耦合电路构成的弱强电隔离电路；包括欠/过压浪涌发生电路，包括由模式选择按键和触发按键构成的人机交互电路；本发明满足了对用电设备进行瞬间的耐电压浪涌测试要求，具有电路结构紧凑，系统操作简单，成本低、性价比高、稳定性好的特点，解决了现有浪涌测试系统结构复杂，设计成本高，编程复杂的问题。能满足欠压浪涌（9V/50mS/1S，6V/50mS/1S）和过压浪涌(80V/50mS/1S，100V/50mS/1S)测试需求。

技术领域

本发明涉及用电设备经受耐电压浪涌的测试装置，更具体涉及一种基于微控制器的浪涌发生测试装置及测试方法。

背景技术

浪涌也称为突波，顾名思义是超出正常工作电压的瞬间欠电压或过电压，由电源系统的自身调节及调节器的校正作用所引起的某一特性偏离受控稳态值的变化。国军标GJB181-86中要求对用电设备进行耐电压浪涌的测试，用电设备在经受浪涌电压时，设备应能正常工作或不发生故障，因此发明一种浪涌发生装置对用电设备进行瞬间的欠电压或过电压测试尤为迫切。现有技术中，测试装置主要由编程脉冲序列和高级模式分析软件构成，结构复杂，设计成本较高，编程复杂。

发明内容

鉴于现有技术状况及存在的问题，本发明提供一种基于微控制器的浪涌发生测试装置及测试方法。本装置电路结构紧凑，系统操作简单，性价比高，稳定性好，并能满足应用需求，解决了现有浪涌测试系统结构复杂，设计成本高，编程复杂的问题。

本发明采取的技术方案是： 一种基于微控制器的浪涌发生测试装置，其特征在于：包括由复位电路、时钟电路、滤波电路和微控制器构成的微控制器电路；包括用于为微控制器电路提供供电电源的微控系统供电电路；包括由第一光电耦合电路和第二光电耦合电路构成的弱强电隔离电路；包括由欠压浪涌发生电路和过压浪涌发生电路构成的欠/过压浪涌发生电路，包括由模式选择按键和触发按键构成的人机交互电路；所述的微控系统供电电路与微控制器相连，微控制器分别与第一光电耦合电路和第二光电耦合电路相连，第一光电耦合电路和第二光电耦合电路分别与欠压浪涌发生电路和过压浪涌发生电路相连，模式选择按键和触发按键与微控制器相连。

本发明所述微控制器采用ATmega8芯片N2，芯片N2的6脚连接外部有源晶体振荡器G1的4脚，7脚通过电容C10连接有源晶体振荡器G1的3脚，有源晶体振荡器G1的2脚接地；所述人机交互电路包括触发按键和模式选择按键，触发按键电路连接关系为：二极管D2正向输入端连接电容C19、电感L4、电容C20、电阻R42，又与芯片N2的PD3端口相连，电容C19和电容C20的另一端接地；二极管D2的正向输出端连接单刀双掷开关S3的一端，单刀双掷开关S3公共端连接电阻R6的一端，电阻R6另一端连接VCC，单刀双掷开关S3另一端接地；二极管D1的正向输入端连接电容C17、电感L3、电容C16，电阻R43与芯片N2的PD2端口相连，电容C16和电容C17的另一端接地，二极管D1的正向输出端连接单刀双掷开关S2的一端，单刀双掷开关S2公共端连接电阻R7的一端，电阻R7另一端连接VCC，单刀双掷开关S2另一端接地；模式选择按键电路连接关系为：芯片N2的PB0端口、PB1端口、PB2接口分别连接拨码开关JP2的6脚、5脚、4脚，拨码开关JP2的1脚、2脚、3脚分别连接电阻R31、电阻R30、电阻R29，电阻R31、电阻R30、电阻R29的另一端接地；芯片N2的PB0端口、PB1端口、PB2端口还连接电阻R32、电阻R33、电阻R34，电阻R32、电阻R33、电阻R34另一端连接VCC；芯片N2的PB3端口连接连接器J1的4脚，PB4端口连接连接器J1的1脚，PB5端口连接连接器J1的3脚，连接器J1的5脚连接拨动开关S1的一端，拨动开关S1的另一端和连接器J1的6脚分别接地；芯片N2的20脚通过电容C22接地。