[发明专利]一种气溶胶粒子粒径检测方法在审

专利信息
申请号: 201910990735.6 申请日: 2019-10-18
公开(公告)号: CN110672479A 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 熊胜军;袁丁;吴红彦;夏征 申请(专利权)人: 北京华泰诺安探测技术有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 11453 北京名华博信知识产权代理有限公司 代理人: 苗源
地址: 101312 北京市顺*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光电探测器 粒径检测 飞行时间法 气溶胶粒子 双光 光学检测室 气溶胶粒径 标定系数 激发光束 气动力学 气体通过 溶胶粒子 装置实现 光脉冲 进气管 可检测 气溶胶 折射率 正整数 检测 单光 粒径 气泵 气路 色度 式中 光源 飞行
【说明书】:

发明提供了一种气溶胶粒子粒径检测方法,所述方法采用气溶胶粒子粒径检测装置实现,所述方法包括:启动所述气泵,令气体通过进气管进入光学检测室形成气路;开启所述光源和所述光电探测器,获取所述光电探测器的计算结果;其中,所述光电探测器计算的粒径D与所述激发光束的预定光脉冲宽度W满足如下关系:D=a0+a1W+a2W2+…+aiWi;式中,a0、a1、a2…ai为标定系数,i为大于1的正整数。本发明的气溶胶粒子粒径检测方法是一种单光程飞行时间气动力学气溶胶粒径检测方法,与双光程飞行时间法一样具有不受颗粒材质、色度、折射率的影响的特点,本发明的检测方法相比双光程飞行时间法更容易实现,而且可检测气溶胶的浓度更高。

技术领域

本发明涉及气溶胶粒子检测技术领域,尤其涉及一种气溶胶粒子粒径检测装置及方法。

背景技术

气溶胶是悬浮在气体介质中的固态或液态颗粒所组成的气态分散系统,其颗粒大小一般从0.001~100μm,分为烟、雾和灰尘,可自然产生或人工形成。一定浓度的气溶胶会影响人体健康,在某些特殊环境需要严格地控制气溶胶的浓度。

气溶胶粒子由于测量方法不同而有不同的等效粒径,按照测量原理划分包括:几何等效粒径、光学粒径、气动力学质量粒径。

几何等效粒径:应用TEMS/EM分析铜网采集的气溶胶颗粒,统计电镜照片中颗粒的投影面积和长度,得到几何等效粒径。电镜是最直接的观察方法,但其会损失颗粒的空间分布信息,因此几何等效粒径估算偏大,并且只适合于实验室采样分析,不能用于现场实时监测分析。

光学粒径:基于Mei散射理论的激光散射粒度技术,它分析颗粒衍射散射光斑强度得到等效光学直径与体积百分比浓度的关系,常规的尘埃粒子计数器、PM2.5激光检测仪多是基于该原理的。此方法具有测量范围极宽、速度快、光学方法不干扰流场的优势,但是光学粒径受气溶胶颗粒的材料、色度、形状和折射系数影响较大,系统的标定常基于聚苯乙烯标准微球,实际测量时气溶胶粒子的化学组成、形状、颜色等千差万别,因此基于散射强度反演测量的等效粒径不准确。

气动力学质量粒径:主要有质量撞击法和飞行时间法两组技术。质量撞击法通过一个多级撞击采样器,利用颗粒的惯性沉积,当气流经过每级采样盘的环形间隙,流速不断增大,当颗粒质量足够大而不能随气流带走时,就沉积在采样盘上;根据颗粒浓度和每级采样收集效率曲线,反演颗粒粒径分布,并通过称重等方法来检测相应尺寸的气溶胶粒子的浓度。典型的飞行时间法有美国TSI公司营业的双光程飞行时间技术,激光通过整形后形成紧密排布的两束,在气路喷嘴处气溶胶颗粒被气流加速快速穿过两束激光,由于质量和密度不同,颗粒得到的重力沉降速度不同,记录前向散射强度和两次散射强度峰之间的时间差,得到颗粒的飞行速度,与标准密度小球的速度数据比较,计算颗粒等效气动学直径、光学直径和颗粒浓度。

其中,质量撞击法是基于颗粒的惯性沉积分辨颗粒等效气动学粒径的大小,由质量支配,但当颗粒密度较小时,气动学粒径对颗粒估算偏小,其同样需要一定的时间采样分析,不能现场实时监测分析;飞行时间法是基于颗粒在气流中的重力沉降速率差来分辨颗粒的大小,所以不受颗粒材质、色度、折射率的影响,测量精度更高。但是双光程飞行时间法由于双光斑激光空间布置距离相对较长,颗粒光斑容易产生重叠误差,当前一颗粒还未飞出检测双光斑区域时,后一颗粒已经开始进入,所以其最大可检测气溶胶浓度一般较低,适用范围受限。

发明内容

本发明旨在解决上面描述的问题。本发明的一个目的是提供一种解决以上问题中的任何一个的气溶胶粒子粒径检测方法。具体地,本发明提供一种适用范围广、实现简单、检测精度高的气溶胶粒子粒径检测方法。

为解决上述技术问题,本发明提供了一种气溶胶粒子粒径检测方法,所述方法采用气溶胶粒子粒径检测装置实现,所述气溶胶粒子粒径检测装置包括:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京华泰诺安探测技术有限公司,未经北京华泰诺安探测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910990735.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top