[发明专利]一种低氧纯银熔体材料熔铸制备方法在审
申请号: | 201910992898.8 | 申请日: | 2019-10-18 |
公开(公告)号: | CN110777263A | 公开(公告)日: | 2020-02-11 |
发明(设计)人: | 张雷;潘建军;钟素娟;马佳;于奇;孙华为;纠永涛 | 申请(专利权)人: | 郑州机械研究所有限公司 |
主分类号: | C22B11/02 | 分类号: | C22B11/02;C22B9/04;B22D7/00;B22D31/00 |
代理公司: | 41120 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) | 代理人: | 李真真 |
地址: | 450000 河南省郑州*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 银锭 铸锭 制备 活性炭粉末 石墨坩埚 一次铸锭 真空熔炼 冒口 切除 取出 熔化 保温静置 纯银熔体 浇注模具 石墨模具 真空炉盖 铸锭冷却 含氧量 银溶液 真空炉 浇注 低氧 放入 工位 料斗 炉盖 模具 熔铸 冷却 倾倒 | ||
一种低氧纯银熔体材料熔铸制备方法,所述具体方法为:1)、将银锭投入到石墨坩埚中,将活性炭粉末投入料斗中,将石墨模具放入真空炉的浇注模具工位,关闭真空炉盖,升温进行一次真空熔炼;2)、待银锭完全熔化为银溶液后,将活性炭粉末倾倒入石墨坩埚中,保温静置15‑30min,开始浇注得铸锭;3)、待铸锭冷却后,打开炉盖,从模具中取出铸锭,切除冒口部分,得到一次铸锭;4)、将一次铸锭进行二次真空熔炼,冷却取出再次切除冒口得二次铸锭,制备完成。综上所述,本发明制备的银锭含氧量低、纯度高。
技术领域
本发明属于纯银熔断器熔体材料制造领域,具体涉及一种低氧纯银熔体材料熔铸制备方法。
背景技术
熔断器广泛应用于高低压配电系统、控制系统以及用电设备中,作为短路和过电流保护器,是应用最普遍的保护器件之一。当熔断器经过过大电流时,熔体材料必须及时熔断以防护电器,熔体材料的化学成分、电阻率、尺寸精度等都影响熔体材料的使用性能。随着现代制造业的高速发展,电器产品日益向大容量、小体积、差异化方向发展,对熔体材料提出了更高的要求,即要求熔体材料品种和规格齐全、形状多样、尺寸精确、性能可靠、在使用过程中电阻低而稳定。改善熔体材料的成型性和加工性,降低其电阻率,对提高熔体材料品质具有重大意义。
银具有极好的导电、导热性能,在所有金属中,银的导电性能最好。因此,纯银是制造熔断器尤其是高端熔断器的理想熔体材料。在纯银熔体材料的加工过程中,需要精确控制其成分纯度、杂质含量及尺寸精度,方可获得稳定、精确的线电阻率。常见的纯银熔体材料产品为银带和银丝,其主要加工工艺流程包括银锭的熔炼铸造、挤压、轧制或拉拔等,银锭为挤压所用坯料,也是整个纯银熔体材料加工过程的起始材料,银锭的纯度直接决定了最终成品的纯度及电阻率,进而影响产品使用性能。因此,制备高纯银锭是加工纯银熔体材料的关键工序。
银的杂质元素及氧含量对银导电性能有很大影响,表征银导电性能的指标为电阻率。银中杂质元素含量越少,氧含量越低,银纯度越高,电阻率越小。对熔断器熔体材料来说,达到同样米电阻值所需银材料的质量就越少,对节省材料成本具有重大意义,因此,电阻率是纯银熔体材料产品的关键技术指标之一。
银在熔炼时会发生氧化,当氧化强烈,熔融银液面上无覆盖剂及炉料中含有较多的铅、锌、砷、锑等易挥发金属时,银的挥发损失会增大。银在空气中熔融时可吸收相当于其自身体积21倍的氧,这些被吸收的氧在熔融银液冷凝时放出形成“银雨”,造成细颗粒银珠的喷溅损失。氧会影响纯银熔体材料电阻率及后续加工性能,因此,控制银锭熔铸过程中的氧含量,开发低氧高纯银锭制备工艺,对精密纯银熔体材料加工具有重要意义。
发明内容
本发明的技术方案是:一种低氧纯银熔体材料熔铸制备方法,所述具体方法为:
1)、将银锭投入到石墨坩埚中,将活性炭粉末投入料斗中,将石墨模具放入真空炉的浇铸模具工位,关闭真空炉盖,升温进行一次真空熔炼;
2)、待银锭完全熔化为银溶液后,将活性炭粉末倾倒入石墨坩埚中,保温静置15-30min,开始浇铸得铸锭;
3)、待铸锭冷却后,打开炉盖,从模具中取出铸锭,切除冒口部分,得到一次铸锭;
4)、将一次铸锭进行二次真空熔炼,冷却取出再次切除冒口得二次铸锭,制备完成。
进一步优化,所述步骤1)中的石墨坩埚为高纯度、高强度、高致密的坩埚,且浇铸模具采用高纯度、高强度、高致密的石墨制作而成。
进一步优化,所述步骤1)中石墨模具的孔径为100mm,高度为260mm。
进一步优化,所述步骤3)中一次铸锭切除的冒口尺寸为整个铸锭长度的十分之一。
进一步优化,所述步骤4)中测得的氧含量值为10.4-10.6ppm。
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