[发明专利]一种无挡片红外测温方法及装置

权利要求书

1.一种无挡片红外测温方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S100，采集红外热成像仪机芯在不同环境温度下热机稳定后的探测器温度和目标灰度；

步骤S200，根据步骤S100采集的数据建立用于根据探测器温度计算虚拟环境温度Ts的多元线性回归模型Ⅰ和用于根据虚拟环境温度Ts计算虚拟目标灰度Gs的多元线性回归模型Ⅱ，进一步计算不同探测器温度下虚拟环境温度Ts，及虚拟目标灰度Gs；

步骤S300，设置至少三个黑体，且为每个黑体设置不同的目标温度，将充分冷却后的机芯开机后采集每个目标温度在不同探测器温度下的灰度数据；

步骤S400，根据步骤S300采集的数据建立用于根据探测器温度计算灰度差△G对应温度差△T的多元线性回归模型Ⅲ，进一步计算不同探测器温度下灰度差△G对应的温度差△T，及预估目标温度Te＝Ts+△T；

步骤S500，根据机芯由冷机到热机状态下探测器温度的变化率对步骤S400获得的预估目标温度Te进行修正，获得需要修正的温度差△T′，进而获得目标温度T＝Te-△T′。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S200中，所述多元线性回归模型Ⅰ为：

其中，T0～Tn为环境温度，V0～Vn为环境温度T0～Tn对应的探测器温度，β～N(0，σ²)。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S200中，所述多元线性回归模型Ⅱ为：

其中，T0～Tn为环境温度，G0～Gn为环境温度T0～Tn对应的目标灰度，V0～Vn为环境温度T0～Tn对应的探测器温度，β～N(0，σ²)。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S300中，设置三个黑体，且设置三个黑体的目标温度分别为T_A、T_B和T_C，其中，T_B-T_A10℃，T_C-T_B80℃。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在步骤S400中，所述多元线性回归模型Ⅲ为：

其中，V₀～V_n为探测器温度，△G₀～△G_n为探测器温度V₀～V_n对应的灰度差，△T₀＝T_B-T_A，△T₁＝T_C-T_B。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S500中，根据如下步骤获得需要修正的温度差△T′：

步骤S501，设置一具有目标温度Td的黑体；

步骤S502，计算不同探测器温度下目标温度Td与预估目标温度Te的差值，及探测器温度变化率；

步骤S503，根据步骤S502获得的数据建立用于根据探测器温度变化率计算需要修正的温度差△T′的多元线性回归方程Ⅳ，进一步计算不同探测器温度下需要修正的温度差△T′。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述多元线性回归方程Ⅳ为：

其中，△T₀′～△T_n′为探测器温度V₀～V_n对应的温度差，VV₀～VV_n为探测器温度V₀～V_n对应的探测器温度变化率。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤S100中，环境温度范围为-20℃～60℃。