[发明专利]一种气体中汞的检测系统和检测方法在审
申请号: | 201911001312.3 | 申请日: | 2019-10-21 |
公开(公告)号: | CN110658133A | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 敖小强;杨露露 | 申请(专利权)人: | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/31 |
代理公司: | 11446 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 张羽;姚志远 |
地址: | 102206 北京市昌*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 汞吸附 检测系统 参比池 测量池 进气口 光束通过 气路连接 生成装置 背景气 出气口 双光束 光路 光源 贵金属材料 汞吸附剂 气体干扰 去除装置 设备成本 实时检测 单光束 吸附 平行 检测 申请 | ||
1.一种气体中汞的检测系统,其特征在于,所述检测系统包括光源、双光束生成装置、测量池、参比池、汞吸附装置;
所述双光束生成装置将所述光源发出的单光束分成平行的第一光束和第二光束,所述第一光束通过第一光路射向所述参比池,所述第二光束通过第二光路射向所述测量池;
所述测量池、参比池和所述汞吸附装置均设置有进气口和出气口;
所述汞吸附装置用于吸附除去汞;
所述测量池的出气口和所述汞吸附装置的进气口之间通过第一气路连接,所述汞吸附装置的出气口和所述参比池的进气口之间通过第二气路连接。
2.根据权利要求1所述的气体中汞的检测系统,其特征在于,所述双光束生成装置包括半透半反镜和反射镜;
所述半透半反镜接收来自所述光源的单光束后形成透射光和反射光;所述透射光作为所述第一光束并透过所述半透半反镜射向所述参比池,所述反射光经过所述反射镜的反射后作为第二光束射向所述测量池。
3.根据权利要求1所述的气体中汞的检测系统,其特征在于,所述汞吸附装置中设置有碘化活性炭。
4.根据权利要求1所述的气体中汞的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包括检测装置,所述检测装置用于检测所述参比池的射出光束中的气体浓度信号以及所述测量池的射出光束中的气体浓度信号。
5.根据权利要求4所述的气体中汞的检测系统,其特征在于,所述检测装置包括第一探测器、第二探测器、差分装置;
所述第一探测器用于感应所述参比池的射出光束中的气体浓度信号,所述第二探测器用于感应所述测量池的射出光束中的气体浓度信号;
并且,所述第一探测器和所述第二探测器均与所述差分装置连接。
6.一种利用权利要求1-5任一所述的检测系统来检测气体中汞的检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:
所述双光束生成装置将所述光源发出的单光束分成平行的所述第一光束和所述第二光束后,所述第一光束射向所述参比池,所述第二光束射向所述测量池;
将待测气体送入所述测量池中对所述第二光束进行吸收,然后经由所述汞吸附装置除去所述待测气体中的汞后,再送入所述参比池中,对所述第一光束进行吸收。
7.根据权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述双光束生成装置包括半透半反镜和反射镜;
所述光源发出的单光束经由所述半透半反镜后,得到透射光和反射光,所述透射光作为所述第一光束直接射向所述参比池,所述反射光经由所述反射镜反射后作为所述第二光束射向所述测量池。
8.根据权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述汞吸附装置中设置有碘化活性炭,用于除去所述待测气体中的汞。
9.根据权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括:
采用检测装置检测所述测量池和所述参比池的射出光束中的气体浓度信号,得到所述待测气体中汞的浓度。
10.根据权利要求9所述的检测方法,其特征在于,所述检测装置包括第一探测器、第二探测器、差分装置,并且采用所述检测装置检测所述测量池和所述参比池的射出光束中的气体浓度信号,得到所述待测气体中汞的浓度包括:
采用所述第一探测器检测所述参比池的射出光束中的第一气体浓度信号,采用所述第二探测器检测所述测量池的射出光束中的第二气体浓度信号,采用所述差分装置对所述第一气体浓度信号和第二气体浓度信号进行差分处理,得到所述待测气体中汞的浓度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京雪迪龙科技股份有限公司,未经北京雪迪龙科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911001312.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测量装置、电子设备以及测量方法
- 下一篇:一种水质分析仪系统