[发明专利]一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试系统及方法有效
申请号: | 201911001539.8 | 申请日: | 2019-10-21 |
公开(公告)号: | CN110864879B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 宋林东;王倩 | 申请(专利权)人: | 歌尔光学科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 济南立木专利代理事务所(特殊普通合伙) 37281 | 代理人: | 杨树云 |
地址: | 山东省潍坊市高新区东明路以*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 投影 模块 tof 深度 模组 平面 测试 系统 方法 | ||
1.一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:包括如下步骤:
(1)采用投射装置在平面度测试面板上投射能够测试平行情况的图形;
(2)使用待测TOF深度模组获取图形信息,对图形信息进行分析计算,判断当前TOF模组与测试面板是否平行;
(3)根据计算结果调整至TOF深度模组与平面度测试面板处于平行位置后,固定TOF深度模组的位置,对TOF深度模组进行平面度检测;
所述步骤(2)中分析计算过程包括如下步骤:
S1、对获取的图形进行阈值化处理以及角点检测,获取其角点的坐标位置;
S2、根据角点的坐标位置分别计算第一方向的边长、第二方向的边长、第一方向两组边长之间的差值和第二方向两组边长之间的差值;
S3、根据步骤S2的计算结果调整TOF深度模组的仰角或/和倾斜角度。
2.根据权利要求1所述的一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:所述边长的计算公式为:
DiatanceMN=SQRT((Mx-Nx)×(Mx-Nx)+(My-Ny)×(My-Ny)),其中,M、N为角点位置编号,x为第一方向,y为第二方向,Mx为M点的第一方向坐标,My为M点的第二方向坐标,Nx为N点的第一方向坐标,Ny为N点的第二方向坐标。
3.根据权利要求2所述的一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:所述第一方向两组边长之间的差值Deltax和第二方向两组边长之间的差值Deltay的计算公式分别为:
Deltax=abs(DiatanceMN-DiatanceM'N'),
Deltay=abs(DiatanceMM'-DiatanceNN'),
其中,M'和N'为角点位置编号。
4.根据权利要求1所述的一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:若第一方向的边长之间的长度相同,第二方向的边长之间的长度不相同,或情况反之,则仅需要调整TOF深度模组的仰角或倾斜角度。
5.根据权利要求1所述的一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:若第一方向的边长之间的长度不同且第二方向的边长之间的长度亦不同,比较第一方向两组边长之间的差值和第二方向两组边长之间的差值,先调整差值较大的一组至差值为零,再调整差值较小的一组至差值为零。
6.根据权利要求1所述的一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:所述步骤(3)中对TOF深度模组进行平面度检测的过程包括如下步骤:
①获取深度图像的稳定深度数据信息,将多帧深度图像的数据进行平均计算,作为待分析的深度数据;
②对待分析的深度数据进行稳定性计算,若计结果符合标准值,则认定为该TOF深度模组平面度测试成功,若计结果过不符合标准值,则认定为该TOF深度模组平面度测试失败。
7.根据权利要求6所述的一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:所述步骤②中稳定性计算为对所有数据进行方差计算。
8.根据权利要求1所述的一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试方法,其特征在于:所述步骤(1)中的投射装置为IR投影模块。
9.一种基于投影模块的TOF深度模组平面度测试系统,采用如权利要求1-8任意一项所述的测试方法,其特征在于:所述系统包括平面度测试面板、投射装置、TOF深度模组和数据分析模块,投射装置用于向平面度测试面板投射能够测试平行情况的图像,TOF深度模组获取图像信息,数据分析模块用于分析TOF深度模组与平面度测试面板是否平行。
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