[发明专利]一种环形磁块的综合检测装置及其检测方法在审

专利信息
申请号: 201911001861.0 申请日: 2019-10-21
公开(公告)号: CN112763948A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 姚立新;杨建华 申请(专利权)人: 中核(天津)科技发展有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01L5/00
代理公司: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 代理人: 李玲
地址: 300000 *** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 环形 综合 检测 装置 及其 方法
【说明书】:

本发明公开了环形磁块的综合检测装置,包括外壳、设置于外壳内的偏摆结构、磁偏心检测组件和磁拉力检测组件。运用光电结合的测量原理,结合特殊的偏摆结构和机械装置,实现了环形磁块磁拉力、磁偏心和磁偏角的同时快速检测,简化了环形磁块的磁性能检测步骤,提高了检测效率,减轻了检验者的劳动强度。此外,该环形磁块的综合检测装置采用磁屏蔽技术和具有高磁导率的铁镍合金材质导磁环,避免了在批量环形磁块检测时剩磁对磁偏心测量的影响,提高了检测精度。

技术领域

本发明涉及特殊材质工件自动化检测技术领域,特别是涉及一种环形磁块的综合检测装置及其检测方法。

背景技术

对环形磁块的磁性能进行测评时,需要检测该环形磁块的磁偏心、磁偏角、磁拉力等参数,原检测方法为直接测量的方法,利用磁拉力检测装置检测其磁拉力性能,利用磁偏角测量表检测其磁偏角,磁偏心的检测也对应专用的检测设备,如此要评判一个环形磁块的磁性能,费时费力,而且需要不断的变换检测设备,检测成本高昂。

公开号为CN205538047U的发明专利,公开了一种测量下导磁环磁拉力的快速检测装置,包括设置在平面上的支架组件、测量用的数显测力装置、芯轴组件、永磁体组件和安装定位组件。支架组件中的套筒底盖下端面与底座固定,套筒底盖上端面与套筒体固定,套筒底盖上端面的凸台与压力传感器的凹槽固定,压力传感器上固定设置有连接帽,连接帽上设置有调节轴,调节轴上设置有锁紧螺母,锁紧螺母的螺纹段拧入到芯轴中,芯轴外壁的连接环和置于套筒体中的连接孔件通过弹簧相连,连接孔件上端设置有永磁体组件,套筒体外壁处设置有安装定位组件。该发明操作简单,无需经常校准,批量生产时可以快速测量下导磁环的磁拉力。

公开号为CN101387693B的发明专利公开了一种永磁体磁偏角测量表及测量方法,该测量表包括表壳及连接于表壳两侧的刻度表座和表底座,还包括一块无磁偏角磁性体,刻度表座的正面有一圈刻度,其中心设有一个指针,指针的旋转轴穿过刻度表座,设于刻度表座背面的测试用磁性体紧固连接在指针的旋转轴上,且测试用磁性体的磁极分界线的中心位于指针的旋转轴上,指针与测试用磁性体的磁极分界线垂直,表底座的中心位置设有一个可放入无磁偏角磁性体的长方形孔。该方法为先在上述测量表的长方形孔中放入无磁偏角磁性体进行调零操作,然后取出,放入被测磁性体,指针的示数就是被测磁性体磁偏角的读数。

分别用不同的设备对同一环形磁块进行磁拉力和磁偏角的测定,存在检测步骤复杂,检测过程繁琐,自动化程度和检测效率低、磁偏角检测精度有待提高等问题,无法满足环形磁块批量的检测要求。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术中存在的检测步骤复杂检测效率低以及检测精度不足的缺陷,而提供一种环形磁块的综合检测装置,该综合检测装置包括外壳、设置于外壳内的偏摆结构、磁偏心检测组件和磁拉力检测组件,该综合检测装置结构稳定,其特殊的偏摆结构能够快速的稳定,从而测出环形磁块的各种参数。

本发明的另一个目的,是提供一种环形磁块的检测方法,运用光电结合的测量原理,结合特殊的偏摆结构和机械装置,实现了环形磁块磁拉力、磁偏心和磁偏角的同时快速检测。

为实现本发明的目的所采用的技术方案是:

一种环形磁块的综合检测装置,包括外壳、设置于外壳内的偏摆结构、磁偏心检测组件和磁拉力检测组件,其中:

所述外壳的顶部设有用于对所述环形磁块进行定位的定位组件;

所述偏摆结构自然状态下与所述环形磁块同轴心设置,所述偏摆结构包括导磁环、受所述导磁环驱动顶部发生偏摆并上移的偏摆框和用于稳定所述偏摆框底部的稳定组件;所述稳定组件包括固定在所述偏摆框底部的底座、固定在所述外壳底部上的固定板、将所述底座平衡拉拽固定于所述固定板外周的向心弹簧组、固定于所述固定板下表面的支撑轴和形成在所述底座中心的支撑轴窝,所述支撑轴的端部与所述支撑轴窝相接触;

所述磁偏心检测组件为光学定位测量组件或激光定位测量组件;

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