[发明专利]一种电子器件的固定及测试装置

说明书

本发明公开了一种电子器件的固定及测试装置，涉及电子器件测试技术领域，包括底座、锁定环、电环组件、电性连接件、外罩、保持器、电接触组件以及封闭环，所述电接触组件滑动连接于保持器的内腔内并能够通过升降机构上下移动，保持器的上部还设有用于安装待测试元件的安装部，本发明结构简单、紧凑，实现了小型化，灵活性高，能够适应多种情况下的测试需求，且不会对待测试元件造成刮伤，实现了精细调节。

技术领域

本发明属于电子器件测试技术领域，具体涉及一种电子器件的固定及测试装置。

背景技术

目前，针对于电子器件的相关性能测试，往往是在一个工装台上进行，利用夹具将待测试元件夹紧，再接通相关电路，以实现测试过程。该过程中，由于与待测试元件的触头相连接的测试工具较为尖锐，容易对待测试元件造成刮伤，如WO/2003/049147描述的测试系统中，其采用杠杆接触的方式，测量尖端容易对触点造成刮伤。现有技术中的测试系统一般较为复杂，体积较大，不适宜安装于一些光学支架上，导致其灵活性较差。另外，现有的测试系统中，一般不具有抽真空功能或不具有一个密闭的测试环境，一些待测试元件以及测量元件由于周围空气的影响，在测试时，容易产生老化，影响了其测试的准确性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子器件的固定及测试装置，以解决上述提到的现有技术中导致的上述缺陷。

一种电子器件的固定及测试装置，包括底座、锁定环、电环组件、电性连接件、外罩、保持器、电接触组件以及封闭环，所述锁定环套设于底座的外圆周上并与其过盈配合，所述电环组件螺纹连接于底座的下部且所述电性连接件安装于电环组件内并能够与电接触组件电性连接，所述外罩安装于底座上并位于底座的上方，所述封闭环安装于外罩的上端，封闭环与外罩的上端之间还安装有一块石英玻璃，所述保持器安装于外罩的内腔内并夹紧固定于底座与石英玻璃之间，所述电接触组件滑动连接于保持器的内腔内并能够通过升降机构上下移动，保持器的上部还设有用于安装待测试元件的安装部。

优选的，所述电环组件包括上电环和下电环，上电环螺纹连接底座的下部，下电环螺纹连接于上电环的下部。

优选的，所述电性连接件包括圆形连接件一和若干个电触头一，所述电触头一安装于圆形连接件上，上电环与下电环的连接处设有一台阶面，圆形连接件一压接与台阶面与下电环之间。

优选的，所述保持器的内腔的两侧壁上还设有滑槽，所述电接触组件包括圆形连接件二、凸耳以及若干个电触头二，凸耳有两个且分别固定于圆形连接件二的两侧，凸耳滑动连接于滑槽内，所述电触头二与电触头一一一对应，所述升降机构具体为螺钉一，保持器的上部安装所述的螺钉一，螺钉一的下部与凸耳螺纹连接并能够调节电接触组件的高度。

优选的，所述外罩通过螺钉二与底座连接，封闭环通过螺钉三与外罩连接。

优选的，所述安装部包括安装槽一和安装槽二，安装槽一和安装槽二的横截面为“十”字形且均贯穿所述的保持器的上部，待测试元件安装于安装槽一内。

优选的，所述外罩的下部位于锁定环与底座之间。

优选的，所述外罩的侧壁上还设有两个对称设置的通孔。

优选的，所述保持器由ABS塑料制成。

本发明的优点在于：

(1)本发明借助于升降机构实现了电接触组件与待测试元件的触点之间的精细调节，不会对待测试元件造成损伤，且结构本身较为简单，无需设置复杂的调节机构和设备，降低了成本。

(2)本发明借助于安装部实现了待测试元件的固定，利用待测试元件与安装槽一的摩擦力实现定位，再辅以电接触组件中的电触头二的抵接，不仅简化了待测试元件的固定，而且还能保证很好的电性连接。