[发明专利]一种用于软件测试的生成污损二维码的方法

说明书

本发明涉及一种用于软件测试的生成污损二维码的方法，首先基于Google的zxing开源库生成正常二维码矩阵，再根据二维码的布局结构，对包含了不同信息部分的区域进行填充、颜色渐变、腐蚀、膨胀等处理，使二维码部分有效信息被遮盖或产生畸变，从而实现二维码的污损，实现了多种污损类型二维码的生成；生成的污损二维码可用于对软件扫码识别性能的测试。

技术领域

本发明涉及二维码技术领域，具体涉及一种用于软件测试的生成污损二维码的方法。

背景技术

二维码本身是一种容错性比较强的码，在受到污损时可以通过冗余信息还原完整内容，从而可以正确识别。在对扫码产品进行测试时，需要了解其对污损区域不同，污损程度不同的二维码的识别能力。

现有的一些二维码污损测试主要通过以下两种方式获得污损二维码：

1.自然受损：

二维码图片在使用中受损，将污损照片收集整理用于测试。

这种方法获取的污损码的污损程度具有很大的不确定性，需要采集不同受损情况的二维码，可能会有大量污损类似的情况出现。

2.数字图像处理：

识别二维码不同部位，选取要污染的区域做数字图像处理。

这种方法实际上是先识别二维码获得矩阵信息，根据二维码结构选择要污损的部位进行处理，处理后重新生成污损图片提供给测试使用，可以实现对污损部位和污损程度的控制。但是，先识别图片再实现污损，流程繁琐。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中的不足之处而提供一种生成可以控制污损方式和污损程度的二维码的方法来实现软件测试中对扫码识别性能的测试。

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：

一种用于软件测试的生成污损二维码的方法，按以下步骤执行，

步骤S01：根据需要测试的二维码污损情况，创建污损情况对应参数及其数值表；

步骤S02：编写代码，使用zxing开源库生成正常二维码矩阵；

步骤S03：根据二维码国家标准，定位需要污损部位在图片矩阵中的坐标，对污损部位进行污化处理。

进一步的，步骤S03中定位污损部位有以下情况：

1）版本信息污损；2）边界污损；3）定位符污损；4）校正图形污损；5）寻像图形污损。

进一步的，步骤S03中定位的污损部位可进行叠加生成污损码。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1.本发明由于依据二维码结构进行污损处理，可以根据测试需求控制污损部位和污损程度。

2.且本发明由于对污损二维码的污损情况进行分类，可以用于单一污损情况的识别测试和叠加污损情况的识别测试。

3.本发明在生成图片前先对矩阵做处理，避免生成图片再转化成矩阵的繁琐过程。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为二维码的结构示意图；

图2为版本信息污损的二维码；

图3为边界污损的二维码。

具体实施方式