[发明专利]数据擦除命令测试方法和相关装置

说明书

本申请的实施例提供了一种数据擦除命令测试方法和相关装置，涉及命令测试领域。方法包括：将预设数据写入存储设备的多个存储区域，其中，多个存储区域占据存储设备的存储空间的一部分；执行待测试的数据擦除命令对每个存储区域进行数据擦除；在对每个存储区域进行数据擦除完成后，当每个存储区域中的擦除数据均符合数据擦除命令对应的擦除结果时，确定数据擦除命令在存储设备上正常执行。由于多个存储区域占据存储设备的存储空间的一部分，在存储设备上执行待测试的数据擦除命令能够更快速地完成数据擦除，故而能够减少从物理层面将数据删除的命令的测试时间，提高测试效率，并减小对存储设备的磨损。

技术领域

本申请涉及命令测试领域，具体而言，涉及一种数据擦除命令测试方法和相关装置。

背景技术

随着科技的发展，数据安全越来越受人们的重视。在删除数据时，为了更加彻底地删除数据，目前通常采用从物理层面将数据删除的命令进行数据删除，例如，在NVMe(Non-Volatile Memory express，NVMe协议)接口标准中，Sanitize(擦除)命令用于擦除存储设备中的数据，并且可以从物理层面彻底将数据删除，例如用户数据、Cache(高速缓冲存储器)中缓存的数据、元数据(Metadata)等。

然而，对于大容量的存储设备，测试对该存储设备执行从物理层面将数据删除的命令是否成功时，现有的测试方法存在着测试时间长，测试效率低下，并且会对存储设备造成较大磨损的问题。因此，如何减少从物理层面将数据删除的命令的测试时间，提高测试效率，减小对存储设备的磨损成为亟待解决的问题。

发明内容

本申请的目的包括，例如，提供了一种数据擦除命令测试方法和相关装置，其能够减少从物理层面将数据删除的命令的测试时间，提高测试效率，并减小对存储设备的磨损。

本申请的实施例可以这样实现：

第一方面，本申请实施例提供一种数据擦除命令测试方法，包括：将预设数据写入存储设备的多个存储区域，其中，所述多个存储区域占据所述存储设备的存储空间的一部分；执行待测试的数据擦除命令对每个所述存储区域进行数据擦除，以将所述预设数据修改为擦除数据；在对每个所述存储区域进行数据擦除完成后，判断每个所述存储区域中的擦除数据是否均符合所述数据擦除命令对应的擦除结果；当每个所述存储区域中的擦除数据均符合所述数据擦除命令对应的擦除结果时，确定所述数据擦除命令在所述存储设备上正常执行。

在可选的实施方式中，所述将预设数据写入存储设备的多个存储区域的步骤包括：将所述存储空间划分为N个存储区域；从所述N个存储区域中选择M个存储区域，并将所述预设数据分别写入所述M个存储区域。

在可选的实施方式中，所述将预设数据写入存储设备的多个存储区域的步骤包括：将所述存储空间划分为顺序排列的N个存储区域；从所述N个存储区域中选择M个存储区域，并将所述预设数据分别写入所述M个存储区域，其中，所述M个存储区域至少包括所述N个存储区域中的首个存储区域、最后一个存储区域中的一个。

在可选的实施方式中，当数据擦除命令为Block Erase Sanitize块清除命令时，所述擦除结果包括第一预设数据，所述第一预设数据包括全0数据、全1数据或预设格式数据；所述判断每个所述存储区域中的擦除数据是否均符合所述数据擦除命令对应的擦除结果的步骤包括：判断每个所述存储区域中的擦除数据是否均符合所述第一预设数据。

在可选的实施方式中，当数据擦除命令为Crypto Erase Sanitize加密清除命令时，所述判断每个所述存储区域中的擦除数据是否均符合所述数据擦除命令对应的擦除结果的步骤包括：判断每个所述存储区域中的擦除数据是否与所述预设数据一致。