[发明专利]一种测试系统及方法

权利要求书

1.一种测试系统，其特征在于，包括：

测试组件，用于测试电子产品；

第一传感器组，用于获取被测电子产品的状态信息；

第二传感器组，用于获取测试的过程信息；其中，

所述测试组件根据所述状态信息和所述过程信息确定该测试系统下一步执行的测试动作，进而实现对被测电子产品的质量检测，

其中所述测试组件包括：

主控计算机、信号交换设备、信号采集设备、信号激励设备、目标模拟设备组以及能源供给设备；

所述主控计算机用于控制所述测试组件中除该主控计算机之外的其他设备、所述第一传感器组以及所述第二传感器组；

所述信号交换设备用于测试过程中的所有信号的中继转发和交互；

所述信号采集设备用于对被测电子产品在测试过程中的所有模拟量信号、数字量信号以及通信信号的采集；

所述信号激励设备用为被测电子产品提供运行所需的激励信号；

所述目标模拟设备组用于对被测电子产品运行提供模拟信号；

所述能源供给设备用于为被测电子产品运行提供电能；

其中，所述电子产品为制导发射系统，

所述制导发射系统具体包括：制导装置、姿态装置、推出机构、分离机构、点爆装置；

所述状态信息包括：

被测电子产品预设部件间的距离、被测电子产品活动部件的运动速度和运动距离、被测电子产品具有偏转属性部件的转动角度信息、被测电子产品在测试工程中具有振动属性部件的振动情况、被测电子产品中具有发热属性部件的升温情况以及被测电子产品的压力敏感元件的实时压力状况，

所述过程信息包括：

具有电缆连接关系部位的连接情况和松动程度、测试过程中存在的异常点爆情况、分离机构的动作情况、推出机构的推出情况、所述姿态装置的运动姿态以及制导装置的运动状态；所述推出情况包括推出速度和推出到位情况。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标模拟设备包括：

姿态模拟设备、红外模拟设备以及射频模拟设备；

所述姿态模拟设备用于对被测电子产品运行的状态进行模拟；

所述红外模拟设备用于为被测电子产品模拟热源目标；

所述射频模拟设备用于为被测电子产品模拟辐射射频类信号的目标。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述第一传感器组包括：距离传感器、位移传感器、角度传感器、振动传感器、温度传感器以及压力传感器中的至少一个；

所述距离传感器用于测量被测电子产品预设部件间的距离，所述位移传感器用于测量被测电子产品活动部件的运动速度和运动距离，所述角度传感器用于测量被测电子产品具有偏转属性部件的转动角度信息，所述振动传感器用于测量被测电子产品在测试工程中具有振动属性部件的振动情况，所述温度传感器用于测量被测电子产品中具有发热属性部件的升温情况，所述压力传感器用于测量被测电子产品的压力敏感元件的实时压力状况。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述第二传感器组包括：连接状态图像识别设备、点爆装置动态图像识别设备、分离机构动态图像识别设备、推出机构动态图像识别设备、姿态装置动态图像识别设备、制导装置动态图像识别设备中的至少一个；

所述连接状态图像识别设备用于检测具有电缆连接关系部位的连接情况并自动识别松动程度；

所述点爆装置动态图像识别设备用于检测测试过程中是否存在异常点爆情况并及时反馈主控设备；

所述分离机构动态图像识别设备用于检测所述分离机构的动作情况；

所述推出机构动态图像识别设备用于检测所述推出机构的推出情况，所述推出情况包括推出速度和推出到位情况；

所述姿态装置动态图像识别设备用于识别所述姿态装置的运动状态；

所述制导装置动态图像识别设备用于检测所述制导装置的运动状态。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的测试系统，提供一种测试方法，其特征在于，包括：

获取被测电子产品的状态信息和测试的过程信息；

所述电子产品为制导发射系统，所述制导发射系统具体包括：制导装置、姿态装置、推出机构、分离机构、点爆装置；

根据所述状态信息和所述过程信息确定所述测试系统下一步执行的测试动作，进而实现对被测电子产品的质量检测，

所述状态信息包括：

被测电子产品预设部件间的距离、被测电子产品活动部件的运动速度和运动距离、被测电子产品具有偏转属性部件的转动角度信息、被测电子产品在测试工程中具有振动属性部件的振动情况、被测电子产品中具有发热属性部件的升温情况以及被测电子产品的压力敏感元件的实时压力状况，

所述过程信息包括：

具有电缆连接关系部位的连接情况和松动程度、测试过程中存在的异常点爆情况、分离机构的动作情况、推出机构的推出情况、所述姿态装置的运动姿态以及制导装置的运动状态；所述推出情况包括推出速度和推出到位情况。