[发明专利]取像用光学系统、取像装置及电子装置有效

专利信息
申请号: 201911011423.2 申请日: 2019-10-23
公开(公告)号: CN112612104B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 陈冠铭;叶冠廷;郭子杰 申请(专利权)人: 大立光电股份有限公司
主分类号: G02B13/00 分类号: G02B13/00;G02B13/18
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 赵平;周永君
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用光 系统 装置 电子
【说明书】:

一种取像用光学系统、取像装置及电子装置,该取像用光学系统包含三片透镜。三片透镜由物侧至像侧依序为:一第一透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;一第二透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;及一第三透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧。第三透镜具正屈折力,取像用光学系统的透镜总数为三片,且第一透镜、第二透镜及第三透镜于光轴上具有空气间隔。当满足特定条件时,取像用光学系统可在体积与成像面大小间取得平衡,并有助于形成望远结构与压缩体积。

技术领域

发明关于一种取像用光学系统和取像装置,特别是关于一种可应用于电子装置的取像用光学系统和取像装置。

背景技术

随着半导体工艺技术更加精进,使得电子感光元件性能有所提升,像素可达到更微小的尺寸,因此,具备高成像品质的取像用光学系统俨然成为不可或缺的一环。

而随着科技日新月异,配备取像用光学系统的电子装置的应用范围更加广泛,对于取像用光学系统的要求也是更加多样化,由于现有的取像用光学系统较不易在成像品质、敏感度、光圈大小、体积或视角等需求间取得平衡,故本发明提供了一种取像用光学系统以符合需求。

发明内容

本发明提供一种取像用光学系统,其包含三片透镜,该三片透镜由物侧至像侧依序为:一第一透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;一第二透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;及一第三透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧,

其中该第三透镜具正屈折力,该取像用光学系统的透镜总数为三片,该第一透镜、该第二透镜及该第三透镜于光轴上具有空气间隔,该第一透镜于该光轴上的厚度为CT1,该第二透镜于该光轴上的厚度为CT2,该第三透镜于该光轴上的厚度为CT3,该第一透镜与该第二透镜之间于该光轴上的距离为T12,该第二透镜与该第三透镜之间于该光轴上的距离为T23,该第一透镜物侧面与该第三透镜像侧面之间于该光轴上的距离为TD,该取像用光学系统的最大像高为ImgH,该取像用光学系统的焦距为f,满足下列关系式:

1.5(CT1+CT2+CT3)/(T12+T23)8.0;

1.0TD/ImgH;及

3.6f/TD10。

本发明提供一种取像用光学系统,其包含三片透镜,该三片透镜由物侧至像侧依序为:一第一透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;一第二透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;及一第三透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧,

其中该第三透镜具正屈折力,该取像用光学系统的透镜总数为三片,该第一透镜于该光轴上的厚度为CT1,该第二透镜于该光轴上的厚度为CT2,该第三透镜于该光轴上的厚度为CT3,该第一透镜与该第二透镜之间于该光轴上的距离为T12,该第二透镜与该第三透镜之间于该光轴上的距离为T23,该第一透镜物侧面与该第三透镜像侧面之间于该光轴上的距离为TD,该取像用光学系统的最大像高为ImgH,该取像用光学系统的焦距为f,该第一透镜的阿贝数为V1,该第二透镜的阿贝数为V2,该第三透镜的阿贝数为V3,满足下列关系式:

1.2(CT1+CT2+CT3)/(T12+T23);

1.6TD/ImgH4.5;

3.6f/TD25;及

40.0V1+V2+V3140.0。

本发明提供一种取像用光学系统,其包含三片透镜,该三片透镜由物侧至像侧依序为:一第一透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;一第二透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧;及一第三透镜,其具有一物侧面朝向物侧及一像侧面朝向像侧,

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