[发明专利]一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法

说明书

本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集，通过测试模式与可检测故障的对应关系矩阵生成PMS子句集合，将该集合作为输入，利用Partial Max SAT求解器得到一个极小测试模式集，从而缩减测试集规模。本发明降低了芯片在开发中的测试花销，实现了测试模式集的规模的静态压缩，提高了测试效率，能加快电子产品上市时间。

技术领域

本发明涉及一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法，尤其涉及一种测试模式集静态压缩方法中能有效压缩测试模式集规模的方法，属于电路测试技术领域。

背景技术

电路测试在集成电路开发中有非常重要的作用，集成电路测试的复杂度随其复杂度提高指数级增加，芯片制造过程中，集成电路的测试成本占很大大部分。为了解决日益突出的测试成本问题，人们在设计阶段开始关注测试模式自动生成的问题，从而有效降低电路测试成本。

学术界，国内外许多研究人员都对ATPG算法进行了研究和改进.1966年Roth提出了第一个关于非冗余组合逻辑电路的ATPG-D算法，D算法基于多维敏化思路，通过故障激活、故障驱赶和一致性操作等步骤，对可测故障生成测试向量.D算法理论上解决了非冗余组合电路的测试问题，但不能对冗余电路和有重聚扇出电路进行测试向量生成.针对此问题，Geol提出了D算法的改进算法PODEM算法.PODEM算法的主旨是对激活的故障回溯其原始输入，搜索所有可能的原始输入值，只要选取一个满足要求的原始输入作为测试向量，循环搜索，直到完成所有故障回溯.PODEM算法减少了D算法中回溯与判决的测试，有效提高了计算效率，但仍存在回溯的问题.1983年，Fujiwara提出了PODEM的改进算法FAN算法，引入了唯一蕴涵、唯一敏化、多路回退和头线等概念，采用头线和扇出的回溯方式，有效降低了回溯次数和执行时间并在扇出点方面做了改进.此后，许多学者相继地提出了ATPG的改进算法：Schulz等人提出的SOCRATES算法将FAN算法的改进了一维敏化并提出了全局蕴涵，加速了ATPG过程；R.E Bryant提出了简化排序二元决策图ROBDD算法，该算法利用了布尔差分的思想，首先构造可表征布尔函数的二元决策图，然后运用递归对该BDD进行化简，求得测试向量；Larrabee和Stephan等人提出的基于SAT的ATPG算法成，将电路测试转化为SAT问题，将其表示为CNF范式，并通过SAT求解器对凡是进行求解得到测试向量.

现有很多商用的ATPG工具被成功应用到工业设计中，Synopsy开发的TetraMAXATPG是业界功能最强、最易于使用的自动测试模式生成工具。对于不同的集成电路，TetraMAX在很短的时间内生成的测试模式集具有很高故障覆盖率，该工具产生的测试模式集也被在学术界许多其他研究领域广泛使用。

为了对自动测试模式生成工具产生的测试模式集进行进一步压缩，压缩测试模式集规模，提高电路测试效率，降低电路测试成本，发明提出了一种结合PMS技术的方法对测试模式集约简的方法。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法，实现了对集成电路的测试模式集的压缩和测试效率的提高。

结合附图，说明如下：

结合PMS技术压缩集成电路测试模式集的方法，至少包括如下步骤：

步骤1：生成测试所需的电路文件以及对应的协议文件；

步骤2：利用自动测试模式生成工具生成故障列表和其对应的测试模式集合；

步骤3：根据测试模式集合生成相对应的模式故障矩阵；

步骤4：根据模式故障矩阵及PMS硬子句集特点，生成PMS硬子句集；

步骤5：根据模式故障矩阵得到测试向量集合，结合PMS软子句集特点，生成PMS