[发明专利]一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法

权利要求书

1.一种基于单量子点测量共聚焦显微镜探测效率的方法，其特征在于:按照如下的步骤进行

(a)将任意一种胶体量子点利用旋涂法制备在干净的玻片上，将玻片放在共聚焦显微镜中进行荧光成像，寻找单个的量子点，对单量子点荧光进行采集，通过TTTR-TCSPC仪器对每一个荧光光子的到达时间进行记录，同时该仪器也记录荧光光子和对应的激发脉冲的时间间隔，这些时间信息作为原始数据被保存下来；使用matlab软件对得到的原始数据即单量子点的每一个荧光光子的到达时间进行后处理，得到荧光强度轨迹图和荧光强度-寿命分布图；

(b)从荧光强度轨迹图提取“亮态”光子构建时间分辨荧光光谱和二阶关联函数，并由此计算出每脉冲平均光子数；对荧光衰减曲线使用双指数函数拟合，其中τ_X和τ_XX为单、双激子的寿命值，A_X和A_XX为相应的寿命值的振幅，通过对衰减曲线进行积分可以分别得到单、双激子发射的荧光总强度，其中F为重复频率，二阶关联函数中心峰的面积g_c和边峰的面积g_s也可以通过积分分别获得，通过以上各值就可以求出每脉冲平均光子数：

(c)由荧光强度-寿命分布图拟合得出“亮态”单激子量子产率；通过使用Q_X＝(k_X-k_X,nr)/k_X对荧光强度-寿命分布图中的“亮态”线进行拟合，可以得到单激子的量子产率，其中Q_X为单激子量子产率，k_X为单激子总速率，k_X,nr为单激子非辐射速率；

(d)结合每脉冲平均光子数，“亮态”单激子量子产率和激光器的重复频率计算出共聚焦显微镜的探测效率。