[发明专利]基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置

说明书

一种基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置，属于微波光子学技术领域。由可调激光器、耦合器、相位调制器、强度调制器1、强度调制器2、滤波器、矢量网络分析仪、隔离器、单模光纤1、单模光纤2、环形器1、环形器2、微波信号源1、微波信号源2、直流稳压电源1、直流稳压电源2、光电转换器组成。由矢量网络分析仪测量出幅频特性曲线与相频特性曲线，进而实现未知信号频率的粗略测量和精确测量。本发明采用两个泵浦光，实现增益谱损耗谱抵消，增加多频测量范围；本发明基于布里渊散射相频特性构建相移‑频率函数曲线，通过相移‑频率函数曲线得到待测微波信号的频率值，提高了测量的精度。

技术领域

本发明属于微波光子学技术领域，具体涉及一种基于微波光子学的宽范围高精度微波频率测量方法及装置。

背景技术

随着信息技术的高速发展，传统的电学微波频率测量技术由于“电子瓶颈”的制约，电子系统的频带宽度将会越来越难提高，而且电子系统具有大的体积和重量，高昂的高速器件成本，这些都限制了其在实际中的应用。基于微波光子技术的瞬时频率测量(IFM)应用于通讯、导航、雷达、电子战等系统中，受到广泛的关注和研究。微波光子学结合光子学理论和微波理论，兼顾了微波和光子学的优势，基于微波光子学的微波频率测量技术具有损耗低、工作带宽大、系统体积小、可重构性好、抗电磁干扰等固有优点，因此，利用微波光子学技术构建的微波频率测量系统能够很好地解决传统的电学微波频率测量系统存在的问题。

利用光子辅助技术实现微波频率测量得到了飞速发展，这些技术主要分为：频率到微波功率或光功率的映射、频率到时间的映射、四波混频效应以及受激布里渊效应等。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于受激布里渊增益谱损耗谱相抵消和相移谱的微波频率测量方法及装置。

本发明所述的微波光子频率测量装置的结构如图1所示，由可调激光器、耦合器、相位调制器、强度调制器1、强度调制器2、滤波器、矢量网络分析仪、隔离器、单模光纤1、单模光纤2、环形器1、环形器2、微波信号源1、微波信号源2、直流稳压电源1、直流稳压电源2、光电转换器组成。