[发明专利]一种测试系统及测试方法

说明书

本发明实施例公开了一种测试系统及测试方法，其中该测试系统包括：相互连接的第一中央处理模块、第一缓存和第一接口模块；所述第一接口模块连接被测设备；所述第一接口模块，用于从第一缓存中读取第一待测数据，并发送给被测设备，以及从所述被测设备接收第二待测数据，并缓存到所述第一缓存；所述第一中央处理模块，用于当所述第一待测数据和所述第二待测数据满足预设条件时，确定所述被测设备的数据传输测试成功。本发明实施例提供的技术方案，能够提升板级测试效率。

技术领域

本发明实施例涉及板级测试领域，特别涉及一种测试系统及测试方法。

背景技术

目前很多测试系统，特别是板级测试系统，当被测设备要求测试不同的待测数据和测试条件时，需要手动编写测试程序、测试平台以及被测设备(例如被测板卡)，严重影响了测试效率。另外，针对不同的被测设备也都需要定制开发不同的测试程序、测试平台，费时费力而且影响可靠性，同时也给维护带来很大不便。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种测试系统及测试方法，解决现有技术中板级测试效率低的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种测试系统，包括：

相互连接的第一中央处理模块、第一缓存和第一接口模块；所述第一接口模块连接被测设备；

所述第一接口模块，用于从第一缓存中读取第一待测数据，并发送给被测设备，以及从所述被测设备接收第二待测数据，并缓存到所述第一缓存；

所述第一中央处理模块，用于当所述第一待测数据和所述第二待测数据满足预设条件时，确定所述被测设备的数据传输测试成功。

本发明的实施方式提还供了一种测试方法，应用于上述的测试系统；该方法包括：

所述第一接口模块从第一缓存中读取第一待测数据，并发送给被测设备，以及从所述被测设备接收第二待测数据，并缓存到所述第一缓存；

当所述第一待测数据和所述第二待测数据满足预设条件时，所述第一中央处理模块确定所述被测设备的数据传输测试成功。

本发明上述实施方式相对于现有技术而言，提供了一种全新架构的测试系统，避免手动编写测试程序和测试平台，只需要通过在测试系统写入预设条件和待测数据就可以对被测设备进行自动测试，测试效率较高。另外，针对不同测试条件和待测数据要求的被测设备，也不再需要定制开发不同的测试程序，只需要在测试系统写入满足要求的条件和待测数据就可以进行测试，能够大大提升板级测试效率。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1为本发明一实施例提供的一种测试系统的结构示意图；

图2为本发明一实施例提供的一种测试平台的结构示意图；

图3为本发明另一实施例提供的一种测试平台的结构示意图；

图4为本发明另一实施例提供的一种测试平台的结构示意图；

图5为本发明一实施例提供的一种测试方法的流程示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。

实施例一