[发明专利]基于频域和时域的电容式套管绝缘系统老化状态评估方法

权利要求书

1.一种基于频域和时域的电容式套管绝缘系统老化状态评估方法，其特征在于，包括：

分别对干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样进行老化处理后，在不同温度下分别对所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样进行极化和去极化电流的测量，并绘制不同温度下的所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样的极化和去极化电流的测量结果；

在不同温度与湿度下对所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样进行频域介电谱测量，并绘制不同温度与湿度下的所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样的频域介电谱测量结果；

分别对干式整体套管模型以及油浸式整体套管模型进行老化处理后，在不同温度下分别对所述干式整体套管模型以及所述油浸式整体套管模型进行极化和去极化电流的测量，并绘制不同温度下的所述干式整体套管模型以及所述油浸式整体套管模型的极化和去极化电流的测量结果；

在不同温度与湿度下对所述干式整体套管模型以及所述油浸式整体套管模型进行频域介电谱测量，并绘制不同温度与湿度下的所述干式整体套管模型以及所述油浸式整体套管模型的频域介电谱测量结果；

依据不同温度下的所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样的极化和去极化电流的测量结果、不同温度与湿度下的所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样的频域介电谱测量结果、不同温度下的所述干式整体套管模型以及所述油浸式整体套管模型的极化和去极化电流的测量结果与不同温度与湿度下的所述干式整体套管模型以及所述油浸式整体套管模型的频域介电谱测量结果，评估电容式套管绝缘系统的老化状态。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别对干式整体套管模型以及油浸式整体套管模型进行老化处理包括：

通过在预设时间段内改变所述干式整体套管模型中心导杆的载流量/施加电压，实现所述干式整体套管模型的老化处理；

通过在预设时间段内改变所述油浸式整体套管模型中心导杆的载流量/施加电压，实现所述油浸式整体套管模型的老化处理。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别对干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样进行老化处理包括：

分别对交直流干式套管单独绝缘材料试样以及油浸式套管单独绝缘材料试样进行电老化处理与热老化处理。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述分别对交直流干式套管单独绝缘材料试样以及油浸式套管单独绝缘材料试样进行电老化处理与热老化处理前包括：

利用环氧树脂与绝缘纸的复合体系制作所述交直流干式套管单独绝缘材料试样；

利用绝缘纸与矿物油制作所述油浸式套管单独绝缘材料试样。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述不同温度下分别对所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样进行极化和去极化电流的测量，并绘制不同温度下的所述干式套管以及油浸式套管单独绝缘材料试样的极化和去极化电流的测量结果包括：

在第T_i个预设温度下对所述交直流干式套管单独绝缘材料试样进行极化和去极化电流的测量，以时间为对数坐标系的横坐标、电流为对数坐标系的纵坐标，绘制所述第T_i个预设温度下所述交直流干式套管绝缘材料试样的极化和去极化电流的测量结果，其中i＝1,2,…,N；

在所述第T_i个预设温度下对所述油浸式套管单独绝缘材料试样进行极化和去极化电流的测量，以时间为对数坐标系的横坐标、电流为对数坐标系的纵坐标，绘制所述第T_i个预设温度下所述油浸式式套管绝缘材料试样的极化和去极化电流的测量结果。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述在第T_i个预设温度下对所述交直流干式套管单独绝缘材料试样进行极化和去极化电流的测量包括：

在所述第T_i个预设温度下，利用预先搭建的极化与去极化电流测量设备对所述交直流干式套管单独绝缘材料试样进行极化和去极化电流的测量；

其中，所述极化与去极化电流测量设备包括4V的稳定直流电源、数字式万用表及继电器。