[发明专利]集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法

说明书

本发明公开了集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，利用到的设备包括待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列以及工业控制计算机。采用矢量网络分析仪、微波开关阵列、SMA型转N型转接电缆、LRM接口测试转接板及测试控制工控机来完成集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试并对测试通道进行参数补偿，提高了测试结果可靠性及测试效率，解决了LRM接口引出难题，降低了射频通道原位测试难度。

技术领域

本发明涉及自动测试领域，具体的说，是集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法。

背景技术

集束射频电缆与LRM模块化接口射频设备中已得到一定范围的应用，集束射频电缆以其相对灵活的柔韧性、体积小、便于集成等优点应用于空间狭小、电缆数量众多、射频线缆电性能参数要求高且射频电缆集中的设备中。LRM模块化射频、低频混合接口以其接口标准化、高度集成、小型化、直接接插、快捷锁定与多重定位等优点，成为了集束射频电缆的配套使用标准接口。

但是，集束射频电缆的弯折余度过大、高密度集中、LRM模块化接口处于设备机箱底层的模板之上、反复接插磨损等因素，导致集束射频电缆与LRM模块化接口容易出现差损超标、信号相位变异、驻波比变化等射频通道问题，使设备功能不能达到预期效果。

目前，一般采用设备装配之前的射频电缆与LRM模块化接口单独测试的方法来避免装配以后的射频通道问题。装配后也可采用射频电缆与LRM模块化接口分离手动测试的方法来初步确定问题。测试结果可靠性差，测试效率低。

发明内容

本发明的目的在于提供集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，采用矢量网络分析仪、微波开关阵列、SMA型转N型转接射频电缆、LRM接口测试转接板及测试控制工控机来完成集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试。

本发明通过下述技术方案实现：集束射频电缆与LRM模块化接口原位自动测试方法，利用到的设备包括待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列以及工业控制计算机；所述待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列依次连接，所述第二微波开关阵列还与待测设备机箱连接；所述工业控制计算机分别与矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列连接；

所述待测设备机箱包括设置在待测设备机箱上的集束射频电缆和设置在待测设备机箱内部的LRM接口型功能模块；所述工业控制计算机设置有LXI仪器控制接口；所述第一微波开关阵列和第二微波开关阵列均包括输入N型接口、N型输出接口。

其工作原理：工业控制计算机通过LXI仪器控制接口与矢量网络分析仪及微波阵列开关相连，控制微波阵列开关的通道转换及矢量网络分析仪的测试控制以完成集束射频电缆与LRM模块化接口驻波比、射频通道损耗和相位一致性的原位自动测试。

为了更好的实现本发明，进一步地，所述待测设备机箱、矢量网络分析仪、第一微波开关阵列、第二微波开关阵列以及工业控制计算机的连接方法包括以下步骤：

步骤S1：采用SMA型转N型转接射频电缆将待测设备机箱上的集束射频电缆引出并转接至第一微波开关阵列的输入N型接口；

步骤S2：第一微波开关阵列的输出N型接口通过射频电缆与矢量网络分析仪的N型输入接口连接；

步骤S3：矢量网络分析仪的N型输出接口通过射频电缆与第二微波开关阵列输入N型口连接；

步骤S4：第二微波开关阵列输处N型接口与待测设备机箱内部的LRM接口型功能模块连接；