[发明专利]一种基于自动匹配的光口功率测试方法

说明书

本发明涉及一种基于自动匹配的光口功率测试方法，按以下进行：对每一IED的每一光口依据iedName进行搜索，找到对侧IED，并依据配置文件解析出的变电站IED过程层关联关系及记录的APPID及控制块描述自动匹配两端光口；记录当前收口与发口光口功率，并且查找对侧设备，如果跟该光口相连的对侧设备的光口功率已测，则自动计算两个设备间光纤的衰耗值自动计算两侧收发光口的衰耗值。本发明能够自动匹配IED间光口的连接，自动记录功率，检查光口测试信息，实现整个过程光功率自动记录，衰耗值自动计算并预。同时对光纤中的传输的数据集、数据集的数目、数据集的通信模型进行校核，多方式提高智能变电站模型文件的正确率。

技术领域

本发明涉及一种光口功率测试方法，尤其是一种基于自动匹配的光口功率测试方法。

背景技术

目前，采用光功率计测试每一个IED的每一光口的收发功率，将测试结果进行人工记录，测试完成后依据光纤连接表或图，人工进行两个IED之间收发光口的匹配，找到一根光纤连接的两个IED，并根据已测得的两个IED两端的发送、接收光功率值，计算出该光纤连接衰耗值，现有方法依赖于光纤配置表，需人工手动记录并对两个IED收发光口进行匹配，在现有工作模式及缺乏有效技术手段条件下，工作效率低下，直接导致工作时间增加、劳动强度增大，而且还有可能会出现匹配出错的情况，为后续的设备安全运行埋下隐患，此外，无法直接计算光纤连接衰耗值，使得测试过程更加繁琐，且易出错，十分消耗人力物力。

发明内容

为了有效减少现场工作人员在智能变电站现场对IED设备光口功率测试的工作量，优化测试手段，并降低人为出错的概率，本发明提出一种基于自动匹配的光口功率测试方法。

本发明的技术方案具体如下：

一种基于自动匹配的光口功率测试方法，按以下进行：

对每一IED的每一光口依据iedName进行搜索，找到对侧IED，并依据配置文件解析出的变电站IED过程层关联关系及记录的APPID及控制块描述自动匹配两端光口；

记录当前收口与发口光口功率，并且查找对侧设备，如果跟该光口相连的对侧设备的光口功率已测，则自动计算两个设备间光纤的衰耗值自动计算两侧收发光口的衰耗值。

进一步地，同时对光纤中的传输的IEC61850-9-2 SV数据集、GOOSE数据集的数目、数据集的通信模型进行校核。

本发明涉及的一种基于自动匹配的光口功率测试方法，包括如下步骤：

步骤（1）、选定第一待测装置IED待测光口，并解析报文中应用标识符；依据智能变电站配置文件查找应用标识符所在智能电子设备IEDX1；

步骤（2）、判断智能电子设备IEDX1与第一待测装置IED是否相等，若相等，记录第一待测装置IED待测光口报文和光功率；若不相等，则继续选定第一待测装置IED；

步骤（3）、解析第一待测装置IED的第一接收口RX1报文应用标识符，并查找该应用标识符所在装置，若该装置不存在，则继续查找，若存在，则确定为第一接收口RX1对端的装置；

步骤（4）、在第一接收口RX1对端的装置中查找第一待测装置IED，判断该装置中是否存在第一待测装置IED，若存在，即可确定该装置中第二发送口TX2与第一待测装置IED中第一接收口RX1使用同一光纤连接，然后继续判断是否第一待测装置IED全部光口测试完成；若不存在，则直接判断是否第一待测装置IED全部光口测试完成；

若已经完成，则结束该轮测试，重新选择装置继续；若未完成，则选择第一待测装置IED的下一个光口，继续测试。

与现有技术相比，本发明的有益效果如下：