[发明专利]一种利用双绞线精确测量智能门锁内阻的方法在审

专利信息
申请号: 201911020250.0 申请日: 2019-10-25
公开(公告)号: CN110702995A 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 叶远龙 申请(专利权)人: 叶远龙
主分类号: G01R27/14 分类号: G01R27/14
代理公司: 11616 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 代理人: 李丽君
地址: 264006 山东省烟台市*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 智能门锁 双绞线 阻抗测量 测量仪表 测量 后面板 前面板 短接 仪表 读取 元器件本体 电池电量 电性连接 精密仪表 内阻 应用 投资
【说明书】:

发明涉及一种利用双绞线精确测量智能门锁内阻的方法,将测量仪表通过双绞线电性连接到智能门锁来对其内阻进行测量,包括以下步骤:(1)在智能门锁上分别选取1号阻抗测量点和2号阻抗测量点;(2)使用双绞线将仪表的前面板或后面板的Source Hi与Sense Hi短接接入1号阻抗测量点;(3)使用双绞线将仪表的前面板或后面板的Source Low与Sense Low短接接入2号阻抗测量点;(4)读取测量仪表显示的测量值。本发明通过简便易操作的实现方法和极少的投资,避免了因为电池电量的不足或者元器件本体失效而对智能门锁的使用效果造成的巨大的影响,可广泛应用在精密仪表以及智能门锁领域。

技术领域

本发明涉及智能门锁、精密仪表技术领域,具体是指一种双绞线精确测量智能门锁内阻的方法。

背景技术

目前的智能门锁内部阻抗未能精确测量,致使电池使用达不到设计寿命,影响用户体验,存在安全隐患。由于智能门锁内部阻抗未能精确测量,致使这种设计具有很大的缺陷:

a.机构件易运行不到位或者损坏:低电量运行,导致马达负载加大,机构件运行不到位,同时较大的发热量会让马达及传动机构容易损坏;

b.电子元器件易损坏:①低电量运行,导致控制主板及音频构件供电不足,内部阻抗增大,尤其是电容电感类电子元器件,长时间运行,电子元器件会损坏。②智能门锁的内阻无法精确测量,电子元器件的本体功能也会存在隐患,功能失效的可能性增大。以上两点均会导致蓝牙功能失效;

c.无法开关门:机构件或者电子元器件损坏,均会导致无法自动开门,也有可能导致手动开门失效

d.防盗功能失效:运行不到位,导致防盗功能失效。

而且,在现有技术中,存在如下问题:1)上班走得匆忙,合上门之后,用客户端锁门,但智能门锁电量不足,可能锁不到位,也可能锁不上;2)上班或者下班归来,发现智能门锁电池电量低,自动开锁模式失效。如果机构件损坏,那么手动也可能无法开锁;3)手机没有电了,钥匙忘带了,而此时智能门锁电量不足,如此,连家门都进不去了。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明提供的技术方案为:

一种利用双绞线精确测量智能门锁内阻的方法,将测量仪表通过双绞线电性连接到智能门锁来对其内阻进行测量,包括以下步骤:

(1)在智能门锁上分别选取1号阻抗测量点和2号阻抗测量点;

(2)使用双绞线将仪表的前面板或后面板的Source Hi与Sense Hi短接接入1号阻抗测量点,其中,Source Hi与Sense Hi分别为测量仪表上的高电压接线端;

(3)使用双绞线将仪表的前面板或后面板的Source Low与Sense Low短接接入2号阻抗测量点,其中,Source Low与Sense Low分别为测量仪表上的低电压接线端;

(4)读取测量仪表显示的测量值,根据欧姆定律公式R=U/I得到待测智能门锁内阻,其中,R为待测智能门锁内阻值,U为待测智能门锁内阻的电压,I为待测智能门锁所在回路中的电流。

进一步地,所述测量仪表为通用高精度分位测量仪表。

进一步地,所述智能门锁内部部分阻抗短接。

进一步地,所述双绞线的规格为20AWG。

采用以上结构后,本发明具有如下优点:

本发明通过简便易操作的实现方法和极少的投资,避免了因为电池电量的不足或者元器件本体失效而对智能门锁的使用效果造成的巨大的影响;通过提高产测精度,从源头上对产品性能进行完善,可以极大的提高用户体验度,增加客户满意度,有效减少客诉的产生。

附图说明

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