[发明专利]一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构

权利要求书

1.一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构，包括接地板(1)，所述接地板(1)的上表面固定连接有电压板(2)，其特征在于：还包括对称固定连接在接地板(1)上表面的探针(3)，且探针(3)朝向接地板(1)的中心设置；

所述探针(3)包括标尺(4)，所述标尺(4)的上表面刻有刻度线(5)，所述标尺(4)的上表面水平活动连接有至少两块夹紧板(6)，所述夹紧板(6)之间夹紧有变色膜(7)。

2.根据权利要求1所述的一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构，其特征在于，所述刻度线(5)之间的间隔为1mm。

3.根据权利要求1所述的一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构，其特征在于，所述标尺(4)的上表面开设有滑槽(8)，所述夹紧板(6)的下端滑动连接在滑槽(8)内。

4.根据权利要求1所述的一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构，其特征在于，所述夹紧板(6)的纵截面为U形，所述夹紧板(6)的开口朝向接地板(1)的中心设置。

5.根据权利要求1所述的一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构，其特征在于，所述标尺(4)的侧壁上固定连接有定位块(9)，所述定位块(9)上开设有定位销孔(10)。

6.根据权利要求1所述的一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构，其特征在于，所述标尺(4)的材料为铝合金材料。

7.根据权利要求1所述的一种用于回旋加速器束测辐射变色膜的探针结构，其特征在于，所述夹紧板(6)的材料为氮化铝陶瓷材料。