[发明专利]自动光学检测方法及应用其的自动光学检测系统有效

专利信息
申请号: 201911031438.5 申请日: 2019-10-28
公开(公告)号: CN110715941B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 林宽宏 申请(专利权)人: 住华科技股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/88;G06K9/62
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 张燕华;许志影
地址: 中国台湾台南*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 自动 光学 检测 方法 应用 系统
【说明书】:

发明公开了一种自动光学检测方法,包括以下步骤。首先,撷取光学膜片的膜片影像。然后,以特征分类技术,判断膜片影像的一缺陷影像所属的缺陷类别,其中所属缺陷类别包含至少一缺陷型。然后,以机器学习分类技术,判断缺陷影像所属的缺陷型。

技术领域

本发明是有关于一种光学检测方法及应用其的光学检测系统,且特别是有关于一种自动光学检测方法及应用其的自动光学检测系统。

背景技术

光学膜片在形成后必须经过后续的品管,以剔除品质不合规定的劣质品。然而,大部分的品管都是用人工方式,如用肉眼观察以筛选出不合规定的劣质品。然而,以人工品检的方式容易造成误判。因此,如何提出一种新的自动光学检测技术以改善前述问题是本技术领域业者努力的方向之一。

发明内容

本发明有关于一种自动光学检测方法及应用其的自动光学检测系统,可改善前述现有问题。

本发明一实施例提出一种自动光学检测方法。自动光学检测方法包括以下步骤。a)撷取一光学膜片的一膜片影像;b)以一特征分类技术,判断膜片影像的一缺陷影像所属的缺陷类别,其中所属缺陷类别包含至少一缺陷型;以及,c)以一机器学习分类技术,判断缺陷影像所属的缺陷型。

本发明另一实施例提出一种自动光学检测系统。自动光学检测系统包括一摄像器、一特征分类器及一机器学习分类器。摄像器用以撷取一光学膜片的一膜片影像。特征分类器用以:以一特征分类技术,判断膜片影像的一缺陷影像所属的缺陷类别,其中所属缺陷类别包含至少一缺陷型。机器学习分类器用以:以一机器学习分类技术,判断缺陷影像所属的缺陷型。

为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解,下文特举实施例,并配合所附图式详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明一实施例的自动光学检测系统的功能方块图。

图2绘示图1的自动光学检测系统的自动光学检测方法的流程图。

图3绘示本发明实施例的缺陷类别及其缺陷型的示意图。

图4绘示依照本发明一实施例的白色缺陷类别的灰阶曲线图。

图5绘示图3的缺陷影像沿方向5-5’的灰阶曲线图。

图6绘示图3的凸起缺陷型的缺陷影像沿方向6-6’的灰阶曲线图。

其中,附图标记:

10:光学膜片

100:自动光学检测系统

110:摄像器

120:特征分类器

130:机器学习分类器

B1:白色缺陷类别

C1:缺陷类别

C11:点缺陷类别

C12:线缺陷类别

C13:其它缺陷类别

C14:凹陷缺陷类别

C15:凸起缺陷类别

M1:膜片影像

M11、M11’、M11”、M11”’、M11””:缺陷影像

SP、BS、SG、SC、LT、OT1、PR、GL、DT、FM、OT2:缺陷

S1、S2、S3:灰阶曲线

S110~S155:步骤

x、y:方向长度

W1:非白色缺陷类别

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