[发明专利]液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质

说明书

本申请提供一种液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质，以薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、液晶的介电常数以及薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板施加至液晶层的电压值作为液晶配向力影响因子，基于单一变量法进行仿真以获取符合预定条件的间距值、介电常数以及电压值，以为实际液晶显示面板选择合适液晶配向力影响因子提供参考依据，有利于液晶显示面板的液晶配向力的控制，且液晶配向力的仿真可以缩短实际液晶显示面板的开发周期且降低研发成本。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质。

背景技术

近些年来，液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)显示行业不断发展，液晶显示装置广泛地应用于手机、笔记本以及电视等领域。一般而言，液晶显示装置包括阵列基板、彩膜基板以及设置于阵列基板和彩膜基板之间的液晶层。对于需要进行液晶配向的液晶显示装置，液晶配向力会直接决定液晶显示面板的显示效果，因此，对液晶显示装置液晶配向力的控制是十分有必要的。

发明内容

本申请的目的在于提供一种液晶配向力仿真方法、系统、设备及存储介质，有利于液晶显示装置液晶配向力的控制。

为实现上述目的，本申请提供一种液晶配向力仿真方法，所述方法包括如下步骤：

根据待进行仿真的液晶显示面板模型中的薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、所述液晶显示面板模型中液晶层的液晶的介电常数、所述薄膜晶体管阵列基板与所述彩膜基板施加至所述液晶层的电压的电压值，控制所述液晶显示面板模型生成第一仿真图像；

获取生成所述第一仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第一液晶配向力数据；

调整所述间距值、所述介电常数、所述电压值中的一者，并根据调整后的所述间距值、所述介电常数以及所述电压值控制所述液晶显示面板模型生成第二仿真图像；

获取生成所述第二仿真图像的所述液晶显示面板模型中的液晶的第二液晶配向力数据；

输出至少包括第一液晶配向力数据、第二液晶配向力数据的液晶配向力数据集合；

从所述液晶配向力数据集合中选择符合预定条件的液晶配向力数据，且输出符合所述预定条件的液晶配向力数据对应的间距值、介电常数以及电压值，所述预定条件为所述液晶显示面板模型所生成的仿真图像中关于暗纹的参数小于预定参数的条件。

在上述液晶配向力仿真方法中，所述第一液晶配向力数据包括所述第一仿真图像中的暗纹数目以及暗纹尺寸，所述第二液晶配向力数据包括所述第二仿真图像中的暗纹数目以及暗纹尺寸。

在上述液晶配向力仿真方法中，控制所述液晶显示面板模型生成第一仿真图像之前，所述液晶配向力仿真方法还包括如下步骤：

建立液晶显示面板立体模型；

获取所述液晶显示面板立体模型的参数，得参数化液晶显示面板模型；

采用网格划分参数化液晶显示面板模型，得待进行仿真的液晶显示面板模型；

获取待施加至所述待进行仿真的液晶显示面板模型中的液晶层的电压值。

在上述液晶配向力仿真方法中，所述液晶层的液晶为自取向垂直排列混合液晶或聚合物稳定配向型液晶。

一种液晶配向力仿真系统，所述液晶配向力仿真系统包括：

第一控制模块，用于根据待进行仿真的液晶显示面板模型中的薄膜晶体管阵列基板与彩膜基板之间的间距值、所述液晶显示面板模型中液晶层的液晶的介电常数、所述薄膜晶体管阵列基板与所述彩膜基板施加至所述液晶层的电压的电压值，控制所述液晶显示面板模型生成第一仿真图像；