[发明专利]一种SFP光模块调试方法及系统

权利要求书

1.一种SFP光模块调试方法，其特征在于，包括步骤：

MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟；

MCU将接收的测试时钟与内部时钟进行同步；

时钟同步后对SFP光模块进行调试；

所述时钟同步后开始SFP光模块进行调试的步骤具体包括：

测试时钟和内部时钟同步后，检测得到眼图；

获取消光比，将消光比的值调整至预设参数范围，生成新的眼图；

判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求；

调试结束时，修改所述比较器引脚状态。

2.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述MCU内置比较器接收测试时钟及内部时钟的步骤具体包括：

测试板从金手指接入，并向MCU内置比较器发送测试时钟；

所述比较器同时接收SFP光模块中的PHY芯片发出的内部时钟。

3.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述判断所述新的眼图的形状是否达到预设要求的步骤具体包括：

若所述新的眼图的形状不满足预设要求，则继续调整消光比，直至满足预设要求；

若所述新的眼图满足预设要求，则结束调试。

4.根据权利要求1所述的SFP光模块调试方法，其特征在于，所述调试结束时，修改所述比较器引脚状态的步骤具体包括：

调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。

5.一种SFP光模块调试系统，其特征在于，包括：

测试模块，用于发送测试时钟；

接口模块，用于接收测试时钟，并进行传递；

SFP光模块，用于将测试时钟和内部时钟进行同步，并在调试结束后对接口模块及自身的引脚状态进行修改；

所述测试模块与接口模块连接，所述SFP光模块与接口模块连接；

所述SFP光模块包括MCU和PHY芯片，所述MCU中设置有内置比较器，所述内置比较器与金手指及PHY芯片连接，并接收金手指传来的测试时钟及PHY芯片传来的内部时钟；接收测试时钟和内部时钟后，所述MCU将测试时钟和内部时钟进行同步，然后通过示波器检测SFP光模块的眼图，从所述示波器中获取消光比，并调节消光比的值至预设参数范围，直至眼图满足预设要求，则结束调试。

6.根据权利要求5所述的SFP光模块调试系统，其特征在于，所述测试模块包括测试板，所述测试板与接口模块连接，并通过测试板发送测试时钟。

7.根据权利要求6所述的SFP光模块调试系统，其特征在于，所述接口模块包括金手指，所述金手指将测试板接入，并传递测试板发出的测试时钟至主控模块。

8.根据权利要求5所述的SFP光模块调试系统，其特征在于，在调试结束时，MCU将所述内置比较器以及金手指之间互相连接的引脚设置为高阻态，且为输入端。