[发明专利]完好性风险的验证方法及系统

权利要求书

1.一种完好性风险的验证方法，其特征在于，包括：

获取连续时间段内卫星导航的故障样本数，根据所述故障样本数统计各预设故障类型所对应的若干组改正数、发生故障的若干组改正数及一组改正数发生故障的概率；

从所述发生故障的若干组改正数中选取i组改正数，计算所述i组改正数同时发生故障的概率，i的取值范围为1～所述各预设故障类型所对应的发生故障的若干组改正数的总数，其中，所述i组改正数同时发生故障的概率为：其中M为所述各预设故障类型所对应的若干组改正数的总数，P_fault为所述各预设故障类型所对应的一组改正数发生故障的概率；

计算所述i组改正数的仿真样本数，对所述仿真样本数进行故障注入，计算得到所述i组改正数的故障漏检率，其中，所述i组改正数的仿真样本数为：I_{fault_i}＝1.96²×(1-P_{req_md.i})/P_{req_md.i}，P_{req_md.i}＝P_{integrityrisk}/P_fault.i,其中P_{req_md.i}为所需达到的故障漏检率，P_{integrityrisk}为所需达到的完好性风险的概率值；

根据所述i组改正数同时发生故障的概率与所述故障漏检率得到完好性风险的概率值，所述完好性风险的概率值为：其中N为所述各预设故障类型所对应的发生故障的若干组改正数的总数，P_fault.md.i为所述i组改正数的故障漏检率。

2.如权利要求1所述的完好性风险的验证方法，其特征在于，所述故障样本数统计各预设故障类型所对应的若干组改正数、发生故障的若干组改正数及一组改正数发生故障的概率，进一步包括：

计算所述故障样本数的直方图和概率密度图；

根据所述概率密度图确定故障分布；

提取所述概率密度图的包络；

计算各预设故障类型所对应的若干组改正数、发生故障的若干组改正数及一组改正数发生故障的概率。

3.如权利要求2所述的完好性风险的验证方法，其特征在于，所述故障样本数的直方图表示改正数的误差与该误差的样本数量。

4.如权利要求2所述的完好性风险的验证方法，其特征在于，所述故障样本数的概率密度图表示改正数的误差与该误差的发生概率。

5.如权利要求1所述的完好性风险的验证方法，其特征在于，利用斯坦福图计算所述i组改正数的故障漏检率。

6.如权利要求1所述的完好性风险的验证方法，其特征在于，获取3个月以上60个～100个监测站内卫星导航的故障样本数。