[发明专利]目标检测方法及装置、电子设备和存储介质

说明书

本公开涉及一种目标检测方法及装置、电子设备和存储介质，所述方法包括：获取待处理的检测图像；根据所述检测图像的图像特征，确定目标检测对象对应的尺寸特征和角点特征；基于所述尺寸特征和所述角点特征，从所述图像特征中提取所述目标检测对象对应的对象特征；基于所述对象特征确定所述目标检测对象的类别。本公开实施例可提高目标检测的检测精确。

技术领域

本公开涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种目标检测方法及装置、电子设备和存储介质。

背景技术

计算机视觉是利用计算机及相关设备对生物视觉进行模拟的一种技术，可以通过对采集的图像或视频进行处理，获得相应场景的三维信息。在计算机视觉的一个应用中，可以利用采集的图像或视频进行目标检测，确定目标对象类别以及在图像中的位置。

目前，目标检测技术可以利用神经网络直接确定目标对象的类别和定位的检测框，但是，这种目标检测方式的检测精确较低。

发明内容

本公开提出了一种目标检测技术方案。

根据本公开的一方面，提供了一种目标检测方法，包括：

获取待处理的检测图像；

根据所述检测图像的图像特征，确定目标检测对象对应的尺寸特征和角点特征；

基于所述尺寸特征和所述角点特征，从所述图像特征中提取所述目标检测对象对应的对象特征；

基于所述对象特征确定所述目标检测对象的类别。

在一种可能的实现方式中，所述根据所述检测图像的图像特征，确定目标检测对象对应的尺寸特征和角点特征，包括：

对所述检测图像进行至少一级卷积处理，得到所述检测图像的图像特征；

对所述检测图像的图像特征进行角点池化处理，得到目标检测对象对应的尺寸特征和角点特征。

在一种可能的实现方式中，所述卷积处理包括上采样处理和下采样处理；所述对所述检测图像进行至少一级卷积处理，得到所述检测图像的图像特征，包括：

对所述检测图像进行至少一级下采样处理，得到至少一级下采样处理后的第一特征图；

基于所述至少一级上采样处理后的第一特征图，得到至少一级下采样处理后的第二特征图；

基于所述至少一级下采样处理后的第一特征图和所述至少一级上采样处理后的第二特征图，得到所述检测图像的图像特征。

在一种可能的实现方式中，每一级所述下采样处理后输出一个第一特征图，每一级所述上采样处理后输出一个第二特征图像；

所述基于所述至少一级上采样处理后的第一特征图，得到至少一级下采样处理后的第二特征图，包括：

针对所述至少一级上采样处理中的第一级上采样处理，将所述至少一级下采样处理中最后一级下采样处理后的第一特征图，作为所述第一级上采样处理的输入；

得到所述第一级上采样处理后输出的第二特征图；

针对所述至少一级上采样处理中的第N级上采样处理，将所述第N级上采样处理的上一级上采样处理后输出的第二特征图以及匹配于所述第N级上采样处理后输出的第二特征图的第一特征图，作为所述第N级上采样处理的输入；

得到所述第N级上采样处理输出的第二特征图，其中，N为大于1的正整数。

在一种可能的实现方式中，所述将所述第N级上采样处理的上一级上采样处理后输出的第二特征图以及匹配于所述第N级上采样处理后输出的第二特征图的第一特征图，作为所述第N级上采样处理的输入，包括：