[发明专利]一种提高EMMC数据信号采样精度的方法在审
申请号: | 201911038949.X | 申请日: | 2019-10-29 |
公开(公告)号: | CN110931062A | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 余龙 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G11C7/22 | 分类号: | G11C7/22;G06F3/05 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 emmc 数据 信号 采样 精度 方法 | ||
1.一种提高EMMC数据信号采样精度的方法,所述EMMC与一SOC之间设置至少一根数据信号线,其特征在于,具体包括以下步骤:
步骤S1、选取至少两根所述数据信号线中的其中一根作为当前数据信号线;
步骤S2、对所述当前数据信号线于所述SOC的一侧增加一预定的接收延迟时间;
步骤S3、所述SOC向所述EMMC发送读取指令,接收所述EMMC的响应信号,并判断所述响应信号是否报错;
若是,则判断是否存在未进行过延迟设置的所述数据信号线;
若存在,则于未进行过延迟设置的所述数据信号线中选取一根所述数据信号线作为当前数据信号线,并转向所述步骤S2;
若不存在,则设置完毕并退出;
若否,则转向步骤S2。
2.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述数据信号线设置为八根。
3.根据权利要求2所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,八根所述数据信号线的延迟顺序为所述数据信号线对应的位数由低至高。
4.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述数据信号线的延迟时间为采样窗口的宽度。
5.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,于所述步骤S3之后,八根所述数据信号线均与所述采样窗口的左边界对齐。
6.根据权利要求5所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述EMMC为一存储器。
7.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述SOC为一控制器。
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