[发明专利]一种提高EMMC数据信号采样精度的方法在审

专利信息
申请号: 201911038949.X 申请日: 2019-10-29
公开(公告)号: CN110931062A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 余龙 申请(专利权)人: 晶晨半导体(上海)股份有限公司
主分类号: G11C7/22 分类号: G11C7/22;G06F3/05
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 提高 emmc 数据 信号 采样 精度 方法
【权利要求书】:

1.一种提高EMMC数据信号采样精度的方法,所述EMMC与一SOC之间设置至少一根数据信号线,其特征在于,具体包括以下步骤:

步骤S1、选取至少两根所述数据信号线中的其中一根作为当前数据信号线;

步骤S2、对所述当前数据信号线于所述SOC的一侧增加一预定的接收延迟时间;

步骤S3、所述SOC向所述EMMC发送读取指令,接收所述EMMC的响应信号,并判断所述响应信号是否报错;

若是,则判断是否存在未进行过延迟设置的所述数据信号线;

若存在,则于未进行过延迟设置的所述数据信号线中选取一根所述数据信号线作为当前数据信号线,并转向所述步骤S2;

若不存在,则设置完毕并退出;

若否,则转向步骤S2。

2.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述数据信号线设置为八根。

3.根据权利要求2所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,八根所述数据信号线的延迟顺序为所述数据信号线对应的位数由低至高。

4.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述数据信号线的延迟时间为采样窗口的宽度。

5.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,于所述步骤S3之后,八根所述数据信号线均与所述采样窗口的左边界对齐。

6.根据权利要求5所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述EMMC为一存储器。

7.根据权利要求1所述的提高EMMC数据信号采样精度的方法,其特征在于,所述SOC为一控制器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶晨半导体(上海)股份有限公司,未经晶晨半导体(上海)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911038949.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top